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烧结温度影响Zn-Bi系压敏陶瓷性能研究

刘建科 , 陈永佳 , 于克锐 , 王浩 , 韩晨 , 崔永宏

功能材料 doi:10.3969/j.issn.1001-9731.2016.08.037

以95.5ZnO-0.5V2 O5-2.0Bi2 O3-0.5Mn3 O4-0.5Y2 O3-0.5Cr2 O3-0.5Co2 O3为配方制备压敏电阻,研究了烧结温度对该体系微观结构及电学性能的影响.研究表明,随着烧结温度升高,ZnO压敏电阻的击穿场强E1mA逐渐减小,非线性系数α、损耗角正切值tanδ以及相对介电常数εr均先增大再减小.当烧结温度为910℃时,压敏电阻的微观结构均匀,晶界清晰,有大量八面体的尖晶石相生成,且分布均匀.该烧结温度下所制备的压敏电阻的非线性系数α达到最大值27,击穿场强E1mA为3456.5 V/cm,工作频率105 Hz条件下该电阻的损耗角正切值tanδ为0.29.

关键词: 烧结温度 , ZnO压敏电阻 , 微观结构 , 电学性能 , 损耗性能

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