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电子束焊接热冲击对GH4133A的微裂纹损伤研究

材料工程 doi:10.3969/j.issn.1001-4381.2001.02.011

电子束焊接是一个复杂的强瞬态的热冲击过程，包括发生在表层的热过程和发生在一定深度的应力波与材料的交互作用。本文基于电子束焊接热冲击效应分析了高温合金电子束焊接接头热影响区的微裂纹形成原因，研究了微裂纹损伤对GH4133A电子束接头高温力学性能的影响。结果表明，热冲击是高温合金电子束焊接热影响区的微裂纹损伤的主要原因，热冲击损伤效应导致接头力学性能的劣化。

关键词: 电子束焊 , 热冲击 , 热影响区微裂纹 , 损伤效应

考虑损伤效应的粘弹性层合板的非线性动力响应分析

傅衣铭 , 王永

复合材料学报 doi:10.3321/j.issn:1000-3851.2005.01.021

扩展了Ladeveze的复合材料单层板的损伤模型,使之可用于考虑剪切粘弹性的复合材料层合板的损伤分析,基于Von Karman方程,建立了考虑损伤效应的粘弹性复合材料层合板的非线性动力学方程,且应用有限差分法和迭代法进行求解.数值结果表明,考虑结构的损伤和损伤演化时,结构的非线性动力响应将发生显著的变化.

关键词: 剪切粘弹性 , 层合板 , 损伤效应 , 几何非线性

离子辐照单晶Si损伤效应的研究

刘昌龙 , 朱智勇 , 侯明东 , 金运范 , 王志光

原子核物理评论 doi:10.3969/j.issn.1007-4627.2000.03.004

回顾了低能离子注入单晶Si经由核弹性碰撞引起的损伤特征及其常规的研究方法,介绍了快重离子辐照单晶Si经由电子能损引起的损伤特点及研究现状,并对该领域的研究作了展望.

关键词: 离子辐照 , 单晶Si , 损伤效应 , 电子能损

以黑松花粉粒和花粉管为试验材料,研究了离子注入对细胞骨架系统的损伤效应.研究结果表明,离子注入会不同程度地破坏花粉管内微管网络的完整性,花粉管形态的异常状态与其微管骨架结构的异常状态密切相关.离子注入对黑松花粉管内的微管骨架系统的正常结构有明显的效应,这种效应的明显程度与离子注入剂量有一定的相关性,即随着离子注入剂量的增加,微管骨架系统受到破坏的程度更加明显.离子注入对黑松花粉管内微丝骨架系统的分布状态有明显的影响,其程度也与离子注入剂量的大小存在一定的相关性.

关键词: 黑松 , 花粉管 , 细胞骨架系统 , 离子注入 , 损伤效应