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铜-二氧化硅凝胶薄膜的电化学制备及其光学性能

冯砚艳 , 王星星 , 辜敏

电镀与涂饰 doi:10.19289/j.1004-227x.2017.09.005

以CuCl2·2H2O和正硅酸乙酯(TEOS)作为前驱体,配制了透明稳定的Cu2+-SiO2复合溶胶.采用循环伏安法研究了Cu2+在该溶胶中的电化学性质,以恒电位法在氧化铟锡(ITO)导电玻璃表面沉积了凝胶复合薄膜.采用扫描电镜、能谱、X射线衍射对复合薄膜进行了表征,以紫外-可见光谱测试了薄膜的线性光学性能.结果表明,控制电位在-0.24 ~ 0.2 V和负于-0.24 V(相对于饱和甘汞电极)可分别制备出Cu+-SiO2和Cu-SiO2凝胶薄膜,前者的平均光学带隙宽度(Eg)为1.94 eV,略高于后者的1.92 eV.由于Cu在溶胶中是连续成核,导致了Cu-SiO2凝胶薄膜中的Cu颗粒大小不均匀(在几十纳米至几微米之间),吸收光谱在400~500 nm出现了Cu带间迁移的吸收峰.

关键词: 二氧化硅溶胶 , , 复合薄膜 , 氧化铟锡 , 恒电位电沉积 , 循环伏安法 , 紫外-可见光谱 , 光学带隙

分段恒电位电化学沉积法制备CuInSe2吸收层

胡飞 , 叶澍 , 文思逸 , 胡跃辉

材料导报

采用分段恒电位电沉积法在FTO导电玻璃上制备了CuInSe2 (CIS)薄膜.通过线性电位扫描分析了阴极的电化学反应,并通过电化学沉积法制备了CIS薄膜.结果表明,恒电位电化学沉积的薄膜与CIS的化学计量比相差较大,增加溶液中铟离子的浓度,可以提高铟在镀层的含量,使薄膜更接近CIS化学计量比.而采用分段恒电位法沉积薄膜,可以抑制铜硒化合物的生长,使薄膜更接近于CIS化学计量比.

关键词: 线性电位扫描 , 铜铟硒薄膜 , 分段电沉积 , 恒电位电沉积

水溶液中Sm-Co合金膜的电化学制备与表征

张金方 , 龙雄飞 , 李新华 , 郭光华

材料导报

室温条件下在以甘氨酸为络合剂的水溶液中,采用恒电位方式在硅片上电沉积制备Sm-Co合金膜.X射线能谱仪 (EDS)分析结果表明,合金膜由Sm、Co组成,其中Sm的相对含量高达26.80%(质量分数);扫描电子显微镜(SEM)观测结果表明,合金膜结构致密,色泽均一,呈银灰色但有少许裂纹;X射线衍射仪(XRD)分析结果表明,合金膜为非晶态,经700℃热处理2h后,合金膜由非晶态转化为多晶态结构.

关键词: 水溶液 , 恒电位电沉积 , Sm-Co合金膜 , 热处理

Cu—Ni-P合金的电沉积及镀层性能

白新波 , 王为

材料保护

目前,少有Cu—Ni-P合金电沉积的研究报道,为此,采用电沉积法制备了Cu.Ni.P镀层,通过循环伏安法考察了铜在Cu—Ni—P镀液中的电化学行为,在此基础上,采用恒电位电沉积法在柠檬酸体系中制备了cu—Ni—P2-元合金镀层,并对镀层的形貌和硬度进行了表征。结果表明:不能单独与铜共沉积的非金属元素P,在一定的工艺条件下,通过在有铜离子的溶液中与镍的诱导共沉积,可以与铜形成Cu.Ni-P合金镀层;Cu.Ni—P合金镀层形貌良好,硬度比Cu镀层有显著提高。

关键词: Cu—Ni—P合金电沉积 , 恒电位电沉积 , 诱导共沉积 , 镀层硬度

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