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注氢硅中微结构缺陷的TEM观察

肖清华 , 王敬 , 屠海令 , 周旗钢 , 刘斌

稀有金属 doi:10.3969/j.issn.0258-7076.2003.03.001

通过透射电子显微镜观察到注氢硅片中存在损伤带, 损伤带的位置和注入氢的分布几乎一致, 推断损伤带是由于氢的注入引起的. 损伤带内主要以平行于正表面的{111}面状缺陷为主, 另外还有斜交于正表面的{111}面状缺陷以及{100}面状缺陷, 这是由于氢朝能量低的位置的迁移聚集而形成的. 在损伤带的中间还可见到晶格紊乱团块和空洞, 这是由于损伤带中间存在高浓度的氢和高密度的面状缺陷而导致形成的.

关键词: , , 离子注入 , TEM , 微缺陷

岩巷爆破围岩损伤演化分析及损伤判据的建立

田运生 , 张舒畅 , 李战军 , 于亚伦

黄金 doi:10.3969/j.issn.1001-1277.2005.08.007

以岩体微观缺陷的分布和Weibull理论为基础,定义了一个损伤变量.通过该损伤变量推导的损伤演化方程,不仅表征了岩体的不可逆动态损伤演化过程,而且和微观缺陷的起裂、扩展和传播以及岩体性能的劣化建立了联系.并且,根据损伤理论建立了岩巷围岩在爆破应力波作用下的损伤断裂判据.

关键词: 岩巷爆破 , 围岩损伤 , 微缺陷 , 损伤判据

半绝缘砷化镓(SI-GaAs)单晶中的微缺陷的研究

王海云 , 张春玲 , 唐蕾 , 刘彩池 , 申玉田 , 徐岳生 , 覃道志

稀有金属 doi:10.3969/j.issn.0258-7076.2004.03.027

砷化镓(GaAs)为第二代半导体材料,GaAs衬底质量直接影响器件性能.利用JEM-2002透射电子显微镜(TEM)及其主要附件X射线能量散射谱仪(EDXA),对半绝缘砷化镓(SI-GaAs)单晶中微缺陷进行了研究.发现SI-GaAs单晶中的微缺陷包含有富镓沉淀、富砷沉淀、砷沉淀、 GaAs多晶颗粒和小位错回线等.还分析了微缺陷的形成机制.

关键词: SI-GaAs , 微缺陷 , 小位错回线 , 沉淀成核中心

陶瓷及陶瓷基复合材料微缺陷的超声检测

梁菁 , 史亦韦

材料工程 doi:10.3969/j.issn.1001-4381.2003.04.010

为研究陶瓷及陶瓷基复合材料微缺陷的超声检测能力,针对一些人工缺陷试样进行了超声检测试验.试验主要采用了纵波垂直入射法和泄漏瑞利波法.通过试验结果,比较了两种方法的检测能力.

关键词: 超声检测 , 陶瓷 , 陶瓷基复合材料 , 微缺陷

Q345R钢中微缺陷的裂纹萌生与扩展

杜洪奎 , 杜睿捷

钢铁 doi:10.13228/j.boyuan.issn0449-749x.20140382

对压力容器与压力管道用钢Q345R在低周疲劳下微孔(?40~200μm)的裂纹萌生与扩展规律进行了研究。研究表明小裂纹的萌生主要机理为滑移带启裂,并且由剪应力起主导作用。微缺陷的尺寸、应力幅等因素对疲劳寿命均有影响显著,当应力幅值较低时,微孔的尺寸对疲劳寿命有明显影响。当应力幅值水平较高时,小孔直径对疲劳寿命的影响则不敏感。微观缺陷尺寸存在临界值,当缺陷尺寸大于临界值时,疲劳寿命下降很快。在同一应力幅水平下,裂纹萌生寿命与疲劳总寿命的比值(Nt/Nf)与微孔尺寸没有关系,本试验的低周疲劳下约为10%~25%。

关键词: 微缺陷 , 裂纹萌生 , 低周疲劳 , 裂纹扩展

微缺陷对热喷涂涂层接触疲劳性能的影响

王韶云 , 李国禄 , 王海斗 , 刘金海 , 徐滨士 , 朴钟宇

材料工程 doi:10.3969/j.issn.1001-4381.2012.02.017

采用超音速等离子喷涂设备在45号钢基体上制备了三种含有不同微缺陷的NiCrBSi合金涂层.使用球盘式接触疲劳实验机对涂层的接触疲劳性能进行了测试,建立了Weibull失效概率图;使用扫描电子显微镜对涂层的微观结构和失效形貌进行了表征;比较了三种涂层的接触疲劳寿命及涂层的主要疲劳失效模式.结果表明,涂层内的微缺陷主要由微孔隙和微裂纹构成,涂层接触疲劳寿命的长短与这些微缺陷含量的多少成反比,涂层的孔隙率为2.5%,1.3%和2.1%,对应的接触疲劳寿命分别为7.77×105,8.99×105,7.81×105周次.同时,涂层微缺陷含量较少时涂层的失效模式主要以剥落失效为主;涂层微缺陷含量较多、结合强度较差时主要以分层失效为主;涂层内存在较大的孔隙可致使涂层的提早失效,同时涂层表面磨损失效的概率增加.

关键词: 等离子喷涂 , 微缺陷 , 失效模式 , 接触疲劳寿命 , Weibull分布

非掺半绝缘砷化镓中的杂质与微缺陷

孙卫忠 , 牛新环 , 王海云 , 刘彩池 , 徐岳生

稀有金属材料与工程

用化学腐蚀法、金相显微观察、透射电镜(TEM)、电子探针X射线微区分析(EPMA)和扫描电镜能谱分析(EDX)等手段,对φ76 mm非掺杂(ND)半绝缘砷化镓(SI-GaAs)单晶中微缺陷、碳的微区分布进行了分析.结果表明:在晶体周边区域,由高密度位错运动和反应形成胞状结构,该胞状结构的本质就是晶体结晶时形成的小角度晶界,且位错与微缺陷有强烈的相互作用:杂质碳在胞壁、近胞壁和完整区的含量依次降低,存在条纹分布.

关键词: SI-GaAs , 微缺陷 , 位错 , AB腐蚀 , 杂质碳

多区聚焦技术在粉末高温合金微缺陷检测中的应用

梁菁 , 史亦韦

航空材料学报 doi:10.3969/j.issn.1005-5053.2006.03.030

针对大厚度粉末高温合金材料中微缺陷的检测难题,采用多区聚焦检测技术,对粉末高温合金微缺陷试样进行了检测灵敏度、信噪比和C扫描成像试验,并与普通单一探头聚焦检测结果进行比较.试验结果表明,多区聚焦技术检测灵敏度高,信噪比好,对于厚度75mm粉末高温合金材料中的微缺陷具有较好的检测效果.

关键词: 粉末高温合金 , 微缺陷 , 多区聚焦 , 超声检测

热处理对热喷涂层接触疲劳性能和寿命影响的研究现状

杨秀从 , 李国禄 , 王海斗 , 康嘉杰

材料导报 doi:10.11896/j.issn.1005-023X.2016.07.017

热喷涂层由于其形成过程的特殊性,致使其内部不可避免地出现一些裂纹、孔隙等微观缺陷,对涂层的接触疲劳性能以及使用寿命产生了恶劣影响,因此极大限制了其应用及发展.热处理不但可以改善涂层表面完整性,而且还能提高其滚动接触疲劳性能和使用寿命.较全面地分析比较了重熔、化学热处理、热等静压等工艺的不同,综述了各工艺对涂层接触疲劳性能和寿命演变规律的影响,并展望了其未来的研究及发展方向,以期为涂层的接触疲劳寿命预测提供一定的理论支持和技术指导.

关键词: 热处理 , 热喷涂层 , 接触疲劳 , 疲劳寿命 , 微缺陷

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