张映敏
,
罗正祥
,
羊恺
,
张其劭
,
黎涛
,
何健
低温物理学报
doi:10.3969/j.issn.1000-3258.2005.02.016
本文在目前国际上正在制订的高温超导薄膜微波表面电阻Rs标准测量方案的基础上,介绍了国内正在研制的测试方法和系统.该系统采用低损耗高介电常数的兰宝石构成工作在TE011δ谐振模式的介质谐振器,在原有研究基础上利用电磁场仿真,改变了输入和输出耦合方式,在77K时,利用它对单片高温超导薄膜Rs进行测试,提高了整个测试系统的品质因素,可成功地用于10×10mm2,10×15mm2和Φ51mm等多种规格样片的测试.整个测试系统体积小,操作方便,且所需实验条件简单,测试灵敏度高,重复性好,对高温超导薄膜无损伤.
关键词:
高温超导薄膜
,
微波表面电阻
,
介质谐振器
,
品质因数
张旭
,
周铁戈
,
孙冬艳
,
何明
,
方兰
,
阎少林
低温物理学报
doi:10.3969/j.issn.1000-3258.2005.z1.042
本文介绍一种蓝宝石加载单端短路谐振腔测量高温超导薄膜的方法,并对测量误差进行了较详细的分析.造成测量误差的主要因素有三个:系统无载品质因数 Q0的测量误差,超导薄膜以外损耗品质因数 Qother的实验误差,以及在谐振腔内超导薄膜的几何参数 G的计算误差.大量的实验结果表明,本方法操作简便,重复性好,测量精度高,相对测量误差不超过10%.
关键词:
介质谐振腔
,
高温超导薄膜
,
微波表面电阻
