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CRC校验在DALLAS单总线产品中的应用

戚俊 , 李季 , 张毅 , 陈结祥

量子电子学报 doi:10.3969/j.issn.1007-5461.2001.06.019

通过对循环冗余校验(CRC)原理的分析,给出了CRC校验在DALLLAS单总线产品的硬件及软件中的实现方法.

关键词: 单总线 , 循环冗余校验