邹智敏
,
郭宏杰
,
马洪波
,
朱跃进
冶金分析
doi:10.13228/j.issn.1000-7571.2014.07.014
采用电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)法对高铬镍基合金690合金中微量钴的测定进行了研究.根据分析线的选择原则,选择背景相对较低、信噪比高的波长为228.616 nm谱线作为分析线.采用基体匹配的方法克服基体效应,多谱线拟合(MSF)法校正主量元素铁、铬和镍对分析元素钴的光谱干扰.方法的检出限为0.001 μg/mL,校准曲线的线性相关系数为0.999 9.方法用于690合金样品中钴的测定,结果与电感耦合等离子体质谱法相符,加标回收率为100.7％～ 102.0％,相对标准偏差(n=8)小于2.0％.
关键词:
电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)法
,
多谱线拟合(MSF)
,
高铬镍基合金
,
钴
