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邵双运 , 金应荣 , 朱世富 , 赵北君 , 宋芳 , 王学敏 , 朱兴华
人工晶体学报 doi:10.3969/j.issn.1000-985X.2001.02.002
本文报道了用改进的垂直气相法(多级提纯垂直气相法)生长富Cd的CdSe单晶体,并对晶体的性能进行了观测,其电阻率为107Ωcm量级,电子陷阱浓度为108cm-3量级,第一次报道了(110)面的腐蚀形貌。结果表明:采用这种方法制备CdSe单晶,设备简单,易于操作,在提纯和生长过程中不需要转移原料,有利于减少晶体中的杂质含量,降低位错密度,改善晶体的电学性能。多级提纯垂直气相法是一种有前途的CdSe单晶体生长的新方法。
关键词: CdSe单晶体 , 多级提纯 , 气相生长 , 电阻率