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分子谱线参数测量新方法

高晓明 , 谈图 , Hiroyuki Sasada

量子电子学报 doi:10.3969/j.issn.1007-5461.2008.02.002

介绍了一种利用F-P腔透射峰宽度测量分子谱线参数的新方法,论文从多光束干涉叠加原理出发,推导出有样品气体吸收的F-P腔的透过率函数,F-P腔的透过率是样品气体吸收线型的函数,随着样品吸收的增加,F-P腔透射条纹宽度增加.实验测量得到的谱线强度与HITRAN2004数据库数据、谱线宽度与理论计算结果很好地一致.

关键词: 光谱学 , F-P腔 , 分子谱线参数 , 吸收 , 多光束干涉

F-P标准具间距高精度测量

王秀琳 , 黄文财 , 谢建平

量子电子学报 doi:10.3969/j.issn.1007-5461.2003.06.022

提出一种通过测量F-P标准具透射峰移动个数与F-P标准具入射角度改变的对应关系,从而求得F-P标准具间距的高精度测量方法.当角度测量精度为30",光谱仪精度为2 GHz时,该方法测量F-P标准具间距的相对误差为4×10-4.

关键词: F-P标准具 , 多光束干涉 , 光谱

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