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航天单粒子事件故障注入系统研究

李华旺 , 刘海涛 , 杨根庆

量子电子学报 doi:10.3969/j.issn.1007-5461.2002.01.013

本文介绍了一种基于内存故障注入和总线故障注入相结合的单粒子事件故障注入系统.首先介绍了故障注入系统的功能及框架,然后以通用性和可扩展性为前提,对实现故障注入器的关键技术进行了探讨.测试结果表明,利用本文介绍的故障注入系统,具有成本低、通用性强、故障注入方便快捷、全动态实时和定量注入等特点.

关键词: 单粒子事件 , 故障注入 , 双端口RAM , 测试 , 容错