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Pr掺杂和Pr-Y共掺杂Zn-Bi系压敏电阻性能的研究

刘建科 , 王秀峰 , 陈永佳

功能材料 doi:10.3969/j.issn.1001-9731.2013.增刊(Ⅱ).032

主要研究了Pr掺杂对 Zn-Bi 系压敏电阻的性能的影响。当Pr6 O11掺杂量为5.49%(质量分数),烧成温度为1150℃时,压敏电压达到400 V/mm;当Pr6 O11掺杂量为3.37%(质量分数),烧成温度为1200℃时,非线性系数达到48。研究还发现 Pr-Y 共掺杂能显著地提高 Zn-Bi 系压敏电阻的压敏电压,但会对体系的非线性系数和漏电流产生不利影响。

关键词: 压敏电阻 , 掺杂 , 压敏电压 , 非线性系数 , 漏电流

MnO对SrTiO3压敏电阻组织性能的影响

陈显明 , 黄勇

材料科学与工程学报

本文研究了MnO加入量对SrTiO3压敏电阻器组织性能的影响.通过金相显微组织的观察,发习当MnO加入量达到0.1mol%时,压敏电阻晶粒尺寸比较大,且均匀致密.而对电性能的测试发现,压敏电压(E10E1)、非线性系数α,损耗tgδ也是在MnO加入量达到0.1mol%时处于最低值,此时E<,10>为5.09V,E1为3.42V,α为5.79,tgδ为0.38.电容量C却在此时取最大值.为105.21nf.同时还研究了压敏电阻器的焊接变化率,发现△E10、△α都比较小,由此可见,焊接前后的性能比较稳定.

关键词: SrTiO3 , 压敏电阻 , 组织性能 , MnO , 陶瓷

绝缘灌封材料对电涌保护器用压敏电阻的电性能影响

王茂华 , 胡克鳌 , 张南法

绝缘材料 doi:10.3969/j.issn.1009-9239.2004.06.018

研究了压敏电阻器在环氧树脂灌封后的电性能变化.由于灌封材料渗入了压敏电阻的边沿,漏电流持续上升,不能趋于稳定,引起了性能的劣化,压敏电阻的侧面灌封材料有电流通过.经交流老化试验后,压敏电阻的性能进一步劣化,通过选择与压敏电阻匹配的灌封材料,或先用绝缘釉对压敏电阻进行侧面处理,可避免由于灌封材料引起的性能劣化现象.

关键词: 压敏电阻 , 灌封 , 绝缘 , 电性能

Cr2O3对(Co,Ta)掺杂的SnO2压敏电阻电学特性的影响

臧国忠 , 王矜奉 , 陈洪存 , 苏文斌 , 王文新 , 亓鹏 , 王春明

功能材料与器件学报 doi:10.3969/j.issn.1007-4252.2004.01.018

研究了Cr对(Co,Ta)掺杂的SnO2压敏材料电学性质的影响.当Cr2O3的含量从0增加到0.15mol%时,(Co,Ta)掺杂SnO2压敏电阻的击穿电压从206V/mm增加到493V/mm;1kHz时的相对介电常数从1968猛降至498;晶界势垒高度分析表明,SnO2晶粒尺寸的迅速减小是样品击穿电压增高、相对介电常数急剧降低和电阻率迅速增大的主要原因.对Cr含量增加引起SnO2晶粒减小的原因进行了解释.掺杂0.15mol% Cr2O3的SnO2压敏电阻非线性系数为24,击穿电压达498V/mm,在高压保护领域有很好的应用前景.

关键词: 压敏电阻 , 二氧化锡 , 势垒高度 , 非线性系数

TiO2压敏电阻的研究与应用

袁明军 , 崔文权 , 李苹 , 冯良荣

材料科学与工艺

为了更好地研制和应用压敏电阻元件,介绍了TiO2压敏电阻的基本性质,压敏机理以及研究现状,阐述了制备过程中掺杂物种、掺杂浓度、烧结温度、粉体材料等因素对二氧化钛压敏电阻性能的影响.研究表明,TiO2系列压敏电阻具有较低的压敏电压、较高的非线性系数、超高的介电常数,并且制备工艺简单.TiO2系列压敏电阻能有效弥补SrTiO3和ZnO系压敏电阻器所存在的不足之处,是低压压敏陶瓷的研发方向.

关键词: 二氧化钛 , 压敏电阻 , 掺杂 , 压敏性能

液相沉淀法制备球状Bi2O3粉料

陈培荣 , 季幼章 , 冯士芬

功能材料

以金属铋为原料,溶解在硝酸中,配置成Bi(NO3)3溶液,用NH3-NH4HCO3作沉淀剂,调节pH值,制备Bi2O3粉料.通过控制反应温度、加料速度、反应时间以及加入适量的分散剂,制备得粒径为2~3μm、粒度分布均匀、分散性良好的超细球状Bi2O3粉料.用Bi2O3粉料制备的ZnO压敏电阻,具有压比低,方波冲击合格率高,性能一致等优点.

关键词: 压敏电阻 , 球状Bi2O3 , 粉料 , 沉淀法

Ce掺杂ZnO 压敏薄膜的微观结构与电学性能研究?

何恺 , 吴文浩 , 陈步华 , 吴婕婷 , 徐传孟 , 徐东

功能材料 doi:10.3969/j.issn.1001-9731.2015.18.014

通过溶胶-凝胶法制备了一种稀土 Ce 掺杂的ZnO-Bi2 O3压敏薄膜,对薄膜进行了XRD、AFM、介电与压敏性能的表征.结果表明,Ce 掺杂不会影响ZnO-Bi2 O3压敏薄膜的晶体结构,但是会减小 ZnO-Bi2 O3压敏薄膜的晶粒尺寸.Ce 掺杂会降低 ZnO-Bi2 O3压敏薄膜的漏电流,减小材料的介电损耗,提升ZnO-Bi2 O3压敏薄膜的非线性性能.当 Ce 掺杂量达到0.3%(摩尔分数)时,ZnO-Bi2 O3压敏薄膜的压敏电压达到了175 V/mm,漏电流降低至502μA.

关键词: ZnO , 稀土 , 显微组织 , 压敏电阻 , 电学性能

Sb掺杂对ZnO-V2O5多元系压敏电阻的影响

赵鸣 , 王卫民 , 刘向春 , 田长生

材料科学与工程学报 doi:10.3969/j.issn.1673-2812.2006.06.010

本文研究了V/Sb预合成粉、SbVO4和Sb2O3等三种不同形式的Sb掺杂对ZnO-V2O5基压敏陶瓷结构和性能的影响.化学计量比不变情况下,上述Sb掺杂方式的改变,使烧结过程中Sb3+离子在陶瓷样品中的浓度上升,促进Zn7Sb2O12型尖晶石相形成,材料晶粒随之细化.同时材料的压敏电压出现大幅上升,而非线性系数和漏电流密度受Sb掺杂形式的变化影响不大.Sb以V/Sb预合成粉进行掺杂可以获得较大尺寸的晶粒,有利于材料在低压方面的应用.

关键词: Sb , 掺杂 , ZnO , 压敏电阻

基于柱状ZnO薄膜的超低阈值电压压敏电阻

季振国 , 黄东 , 席俊华 , 柯伟青 , 周荣富

材料科学与工程学报

利用磁控溅射法在玻璃衬底上制备了基于柱状ZnO薄膜的Al-ZnO-Al三明治结构的超低阈值电压的压敏电阻.XRD和SEM测试结果表明,该压敏电阻中的ZnO薄膜层为结晶性能良好,并且沿ZnO的(002)晶面择优取向生长的柱状薄膜.Ⅰ-Ⅴ测试结果表明,这种由柱状ZnO薄膜构成的压敏电阻阈值电压仅3.2 V,为现有压敏电阻中阈值电压最低的压敏电阻.

关键词: 氧化锌 , 柱状薄膜 , 压敏电阻 , 超低阈值

低压氧化锌压敏陶瓷的显微结构及其电学性能的研究

周东祥 , 章天金 , 龚树萍

功能材料

研究了一价碱金属离子掺杂对低压ZnO压敏陶瓷电学性能的影响规律,探讨了烧结温度、降温速率对其显微结构和电性能的影响,分析了添加剂预合成对ZnO压敏陶瓷场强的影响规律.实验发现:一价碱金属离子掺杂能有效地抑制漏流,增加非线性,但同时使压敏场强增加;提高烧结温度能有效地降低压敏场强,但过高的烧结温度将使漏流增加,非线性系数下降.通常,烧结温度以不超过1250℃为宜;添加剂预合成能降低ZnO压敏陶瓷的压敏场强,它为ZnO压敏陶瓷的低压化提供了一个新的途径与方法.

关键词: 氧化锌 , 压敏电阻 , 电性能 , 碱金属离子 , 显微结构

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