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熊金平 , 左禹 , 田梅
腐蚀学报（英文）
应用光学显微镜，扫描电镜、光电子谱，显微硬度仪，铁素体测量仪等对开裂失效试样进行分析，结果表明，三通和法兰开裂效是由于氢致开裂所致；同时也具有明显的氯化应力腐蚀破裂敏感性。
关键词: 三通 , tee and Flange , crack , failure
