高晓明
,
谈图
,
Hiroyuki Sasada
量子电子学报
doi:10.3969/j.issn.1007-5461.2008.02.002
介绍了一种利用F-P腔透射峰宽度测量分子谱线参数的新方法,论文从多光束干涉叠加原理出发,推导出有样品气体吸收的F-P腔的透过率函数,F-P腔的透过率是样品气体吸收线型的函数,随着样品吸收的增加,F-P腔透射条纹宽度增加.实验测量得到的谱线强度与HITRAN2004数据库数据、谱线宽度与理论计算结果很好地一致.
关键词:
光谱学
,
F-P腔
,
分子谱线参数
,
吸收
,
多光束干涉
