陈善华
,
刘思维
,
孙杰
材料保护
doi:10.3969/j.issn.1001-1560.2007.02.022
采用光电子能谱(XPS)法分析了成都金沙遗址出土铜条和方孔型器两种青铜表面锈层膜的元素及其化学状态.结果表明,两种青铜的锈层膜中都存在纯铜晶粒和PbCO3/PbO,但未发现导致"青铜病"的有害元素Cl,而在方孔型器锈层膜中发现有S2-/SO42-.铜条和方孔型器夹层锈层膜中的Sn完全以SnO2形式存在,从而使青铜合金免遭进一步腐蚀.此外,还讨论了青铜的腐蚀过程与环境的关系.
关键词:
青铜器
,
出土文物
,
腐蚀
,
光电子能谱
,
分析
