郭高凤
,
李恩
,
张其劭
,
李宏福
航空材料学报
doi:10.3969/j.issn.1005-5053.2003.z1.045
采用TE015模高Q圆柱腔对X波段低损耗介质材料的复介电常数进行了变温测试,电场的极化方向平行于样品表面.可测温度范围为常温到200℃.在所有温度点上,空腔的无载品质因数均大于40000.复介电常数的测试范围为εr:1.05～10,tanδ:3×10-2～5×10-5,测试系统的最可几误差为|Δεr / εr|=1.5% ,|Δtanδ|=10% tanδ+3.0×10-5.
关键词:
低损耗介质
,
复介电常数
,
变温
,
圆柱腔
,
微波测量
