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张定铨 , 何家文
金属学报
本文以Macherauch内应力分类法为依据，指出存在于各个晶粒的第Ⅱ类内应力（即微观应力）的值是一个随机变量．通常由X射线衍射线的线形分析获得的所谓微观应力值只是第Ⅱ类内应力的离差；而导致衍射线附加位移的伪宏观应力是其均值.综合两者才是材料中第Ⅱ类内应力的确切表达
关键词: 内应力 , microstress , pseudo-macrostress , X-ray method
