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绝缘介质介电频谱测量方法的研究

许海如 , 张冶文 , 郑飞虎

绝缘材料 doi:10.3969/j.issn.1009-9239.2010.01.019

绝缘介质的介电频谱是绝缘聚合物研究中非常重要的参数.由于测量原理、测量方法和测量技术的不同,对相同材料的实际测量结果常常有偏差,这给绝缘聚合物的研究带来许多困难.为了得到一个准确的测量结果,利用Agilent 16451B电极夹具配合Agilent 4294A精密阻抗分析仪,采用接触法和非接触法分别对线性低密度聚乙烯(LLDPE)、有机玻璃(PMMA)和聚酰亚胺(PI)薄膜进行介电频谱测试.实验结果表明,非接触法是测量绝缘介质介电频谱较合适的方法,可以获得一个准确的结果.对于工频下的电桥测量,采用专门设计的柔性联接精密接触电极也能得到精确的测量结果.

关键词: 接触法 , 非接触法 , 电介质 , 介电频谱

CaCu3Ti4O12陶瓷深陷阱松弛特性研究

杨雁 , 李盛涛 , 李晓 , 吴高林 , 王谦 , 鲍明晖

无机材料学报 doi:10.3724/SP.J.1077.2012.12012

研究了固相反应法及共沉淀法制备的CaCu3Ti4O12陶瓷深陷阱松弛特性.测试了CaCu3Ti4O12陶瓷在频率为0.1~107 Hz,温度为-100~100℃的范围内的介电频谱及温谱.通过对不同温度下介电频谱的分析,研究了双Schottky势垒结构中深陷阱松弛特性.研究表明:在交流小信号作用下,由于Schottky势垒中深陷阱与Fermi能级的上下关系发生变化,引起深陷阱电子发射和俘获即电子松弛过程,在介电频谱中表现为松弛峰;并且由介电谱的分析结果可得深陷阱能级等微观参数.比较不同试样的深陷阱参数可知:在CaCu3Ti4O12陶瓷中,在导带以下约0.52和0.12 eV的能级处存在由本征缺陷产生的深陷阱.介电温谱与频谱的分析类似,二者可以互为补充.

关键词: CaCu3Ti4O12陶瓷 , 介电频谱 , 松弛特性 , Schottky势垒

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