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(Pb1-xSrx)TiO3系铁电陶瓷介电特性的测试分析

王茂祥 , 孙平

材料工程 doi:10.3969/j.issn.1001-4381.2007.04.008

采用常规陶瓷工艺掺杂不同含量的分析纯SiO2和La2O3,在不同烧结温度下, 制备了系列(Pb1-xSrx)TiO3(简称PST)铁电陶瓷.对所制备的PST铁电陶瓷的介电特性进行了测试分析.1250℃烧结温度较1200℃烧结温度下样品在居里点处的温度系数α有所提高,介电常数ε略高(均在103量级),介电损耗D略有降低.随着工作频率的增加,样品介电常数有较明显的下降,介电损耗D略有增加.

关键词: (Pb1-xSrx)TiO3铁电陶瓷 , 介电特性 , 测试分析