乔芝郁
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PieereTaxil
金属学报
在850—1050℃含有Ta或Nb离子的氟化物熔盐中,用电化学表面合金化的方法制备了Ta-Ni和Nb-Ni二元合金,分析表明合金层的成分是均匀的TaNi_3和NbNi_3化合物.利用恒电流间隙滴定技术(Galvanostatic Intermittent Titration Technique)证实了Ta-Ni二元系存在Ta_2Ni,TaNi,TaNi_2和TaNi_3四种化合物,测定了其生成电位和自由能;Nb-Ni二元系仅生成、NbNi和NbNi_3二种化合物.在熔盐电化学表面合金化的过程中,表面合金层的厚度与时间呈抛物线关系.测定了Ta-Ni和Nb-Ni合金中Ta和Nb的扩散系数,并建立了扩散系数随温度变化的Arrhenius方程
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