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A thru-reflect-line calibration for measuring the characteristics of high power LDMOS transistors

Wang Shuai , Li Ke , Jiang Yibo , Cong Mifang , Du Huan , Han Zhengsheng

半导体学报（英文版） doi:10.1088/1674-4926/34/3/034005

关键词:

Dynamic avalanche behavior of power MOSFETs and IGBTs under unclamped inductive switching conditions

Lu Jiang , Tian Xiaoli , Lu Shuojin , Zhou Hongyu , Zhu Yangjun , Han Zhengsheng

半导体学报（英文版） doi:10.1088/1674-4926/34/3/034002

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