李凌燕
,
顾辉
,
Bill Joachim
无机材料学报
doi:10.3724/SP.J.1077.2010.01076
以透射电镜的先进分析方法为主要手段,对前驱体制备Si-B-C-N陶瓷(T2-1)材料纳米尺度的微结构及其晶化过程进行了研究.结果表明,在直接经过1400℃热解后,所得到的T2-1样品出现了非均匀的SiC和Si3N4的结晶以及石墨化或BCN的团簇.为了有效保持材料强度并抑制高温易分解Si3N4相的析出,对T2-1在1000℃热解以进行对比实验.显微结构的观察表明,经过低温热解的基体出现了均匀成分分相;即使再经过1400℃下的退火,仍能有效抑制Si3N4纳米晶的析出,从而增进了材料的高温稳定性.
关键词:
前驱体陶瓷
,
热解
,
结晶
,
透射电子显微学
