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采用InGaP和InAlP作为虚衬底的张应变Ge薄膜的材料性质比较

周海飞 , 龚谦 , 王凯 , 康传振 , 严进一 , 王庶民

材料科学与工程学报

我们利用气态源分子束外延设备在不同In组分的InGaP或InAlP虚衬底上生长Ge薄膜,并比较不同虚衬底上Ge薄膜的材料性质.利用拉曼光谱方法测得生长在InGaP虚衬底上的Ge薄膜最大的张应变量可达1.8%,而生长在InAlP虚衬底上的最大张应变量可达2.0%.通过对表面Ge进行腐蚀并测试电阻的方法,我们发现Ge生长在InGaP上存在平行导电问题,而Ge生长在InAlP上则可以消除平行导电的影响.通过霍尔测试验证了Ge受到张应变时对电子迁移率的提高作用.

关键词: 分子束外延 , InGaP , InAlP , 张应变Ge

GaInAsP/InP阶梯量子阱中氢施主杂质束缚能

尹新 , 王海龙 , 龚谦 , 封松林

量子电子学报 doi:10.3969/j.issn.1007-5461.2013.02.018

在有效质量近似下,利用变分法对GaxIn1-xAsyP1-y/InP阶梯量子阱中氢施主杂质束缚能进行了理论计算,并研究了外加电场和阶梯阱的高度对阶梯量子阱中氢施主杂质电子态特性的影响.计算结果显示当施主杂质位于阶梯量子阱的中心时,束缚能达到最大值;外加电场使得电子波函数从阱中心偏移,引起束缚能的非对称分布;Ga与As组分的变化使得阶梯阱的势能高度发生变化,从而明显地影响阱中氢杂质束缚能.计算结果对一些基于半导体阶梯型量子阱的光电子器件的设计制作有一定的指导意义.

关键词: 光电子学 , 束缚能 , 变分法 , 氢施主杂质 , 阶梯量子阱

外加电场对GaN/AlxGa1-xN双量子阱中性施主束缚能的影响

孟婧 , 王海龙 , 龚谦 , 封松林

量子电子学报 doi:10.3969/j.issn.1007-5461.2013.03.019

在有效质量包络函数理论下,利用变分法计算了未加电场以及加入电场后GaN/AlxGa1-xN双量子阱中施主杂质各种情况下的束缚能,讨论了双量子阱中间势垒高度、施主杂质位置对杂质束缚能的影响.给出了加入电场后施主位置不同时的束缚能和波函数,以及量子阱宽度不同时的束缚能,并且计算了未加电场和加入电场后中间势垒高度变化以及宽度不同时的束缚能.当双量子阱中间垒宽一定时,束缚能随着阱宽的变化会出现一个峰值.在阱宽一定时,随着中间垒宽度的增加,束缚能逐渐减小,并在垒宽增加到一定宽度时双量子阱情况与单量子阱情况相似,束缚能不再明显变化.计算结果对设计和研究GaN/AlxGa1-xN量子阱发光和探测器件有一定的参考价值.

关键词: 光电子学 , 束缚能 , 中性施主 , 变分法 , 打靶法 , 对称双量子阱

Cd1-xMnxTe/CdTe抛物量子阱内激子结合能研究

张金凤 , 王海龙 , 龚谦

连铸 doi:10.3969/j.issn.1007-5461.2015.05.019

在有效质量近似下采用变分法计算了Cd1-xMnxTe/CdTe抛物量子阱内不同Mn组分下激子的结合能,给出了结合能在不同Mn组分下随阱宽、垒宽、外加电场的变化情况.结果表明:激子结合能是阱宽的一个非单调函数,随阱宽的变化呈现先增加后减小的趋势,而且随着Mn组分增大,激子结合能达到最大值的阱宽相应变小,这与材料的带隙改变有关;激子结合能随垒宽逐渐增大然后趋于稳定值,这与波函数向垒中的渗透有关;在一定范围内电场对激子结合能的影响很小,而且Mn组分越大对激子结合能影响越小,但电场强度较大时会破坏激子效应.计算结果可以为基于半导体抛物形量子阱发光器件设计制作提供一些理论依据.

关键词: 光电子学 , 结合能 , 变分法 , 激子 , Cd1-xMnxTe/CdTe抛物量子阱

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