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YSi2纳米颗粒的制备及光学、电学性能研究

黄立娟 , 王磊 , 杜军

中国稀土学报

采用脉冲激光烧蚀高纯YSi2靶,在n型Si(100)单晶村底上制备YSi2纳米颗粒.原子力显微镜(AFM)观察样品表面颗粒尺寸约40~50 nm.X射线光电子能谱(XPS)测试结果表明,YSi2纳米颗粒成分为Y-O-Si.室温下对样品的光致发光(PL)性能进行测试,在500 nm处有一个较大的宽峰,409 nm附近出现强度较弱的发光峰.前者与样品中Y-O-Si电荷迁移带有关,后者为衬底表面纳米尺寸SiOx复合中心离子发光.室温下,对原位制备的薄膜电学(I-V/C-V)性能进行测试,结果表明薄膜的介电常数约为13.6.

关键词: YSi2 , 纳米颗粒 , 脉冲激光烧蚀 , 光致发光 , I-V/C-V , 稀土

PLA制备Tb-Si纳米颗粒及室温光致发光性能研究

黄立娟 , 王磊 , 杜军

中国稀土学报

采用脉冲激光烧蚀技术(PLA)在n型Si(100)单晶衬底上制备Tb-Si纳米颗粒.原子力显微镜(AFM)观察样品的表面形貌,发现样品表面是均匀分布的纳米颗粒,颗粒尺寸在10~20 nm之间,分布密度大约为6×1010/cm2.光电子能谱(XPS)及高分辨透射电镜(HRTEM)分析表明,纳米尺度的单晶硅化物颗粒的主要成分为Tb-Si及少量Tb-Si-O结构.室温下以荧光为激发光对样品的光致发光(photoluminescence)性能进行测试,结果表明样品在可见光区具有较强的发光现象,主要有4个发光峰,分别位于485,545,585和620 nm附近,这些发光峰主要由Tb3+中电子在不同能级之间的跃迁造成.

关键词: ThSi , 纳米颗粒 , 光致发光 , 脉冲激光烧蚀 , 稀土

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