材料期刊网

锡(Ⅱ)增敏四环素体系导数荧光法测定铕及其增敏机理的探讨

张俊杰 , 李红霞 , 黄汉国

冶金分析 doi:10.3969/j.issn.1000-7571.1999.03.006

研究了锡(Ⅱ)对铕-四环素体系中铕的荧光增敏作用,对其增敏机理进行了探讨,并进一步研究了该体系荧光法测定铕的最佳测定条件.该体系测定铕的检测限为0.02μg/L,无锡存在时,铕的检测限为0.09μg/L.锡(Ⅱ)使铕的荧光检测限降低了4.5倍,用一级导数荧光法,使铕的荧光检测限进一步降低到0.011...

关键词: 铕 , 四环素 , 锡 , 导数荧光法