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用XRD和ACS测量研究Y1-xEuxBa2Cu3O7-δ超导体的应力钉扎机制

崔利杰 , 段瑞飞 , 李阳 , 曹国辉 , 马庆珠 , 董成 , 赵忠贤 , 魏龙

低温物理学报 doi:10.3969/j.issn.1000-3258.2001.02.001

利用X射线衍射(XRD)和交流磁化率(Acχ)方法系统地研究了Y1-xEuxBa2Cu3O7-δ(x=0.0~1.0)超导体,研究发现Eu掺杂替代了Y晶位后引起了晶格失配.这种晶格失配与电流密度有密切的联系.对于不同掺杂成分样品,X射线衍射线形分析表明(006)及(007)衍射峰型随掺杂量变化,掺杂浓度在30%和70%附近时,半高宽(FWHM)出现极大值,表明此时样品的晶格失配最大.与此相对应,电流密度Js也在此掺杂浓度范围内达到极大值.我们在晶格失配应力场的钉扎模型下对实验现象进行了讨论,认为Y1-xEuxBa2Cu3O7-δ超导体中由元素替代引起的晶格失配应力场是有效的钉扎中心.

关键词:

高光输出快衰减Pr∶Lu3Al5O12闪烁陶瓷的制备和成像

沈毅强 , 石云 , 潘裕柏 , 冯锡淇 , 吴乐翔 , 寇华敏 , 章志明 , 魏龙

无机材料学报 doi:10.3724/SP.J.1077.2014.13389

采用真空烧结固相反应法,分别制备了不添加和添加烧结助剂(正硅酸乙酯TEOS和MgO)的Pr∶LuAG(Pr∶Lu3Al5O12)陶瓷,研究发现添加烧结助剂烧制的Pr∶LuAG陶瓷在可见光区的直线透过率可达~80%,不添加烧结助剂的陶瓷光学透过率降低(可见光区~70%,2 mm厚),但光输出提高了5倍(为1196 pe/MeV),衰减快分量比例可达73%,能量分辨率8.4%.将Pr∶LuAG陶瓷加工成1.9 mm×1.9 mm× l.0 mm的陶瓷阵列组装探测器模块,用4×4陶瓷阵列单元实现了二维散点图成像,所成散点图清晰可辨.经过平台测试,相同耦合条件下本实验制备的Pr∶LuAG陶瓷成像质量优于商用BGO (Bi4Ge3O12)单晶,结果显示Pr∶LuAG陶瓷有望应用于PET (Positron Emission Tomography)级别核医学成像系统.

关键词: Pr∶LuAG , 透明陶瓷 , 退火 , 闪烁性能 , 成像

一种新的灵敏核探针--慢正电子束流装置

魏龙 , 陈红民 , 于润升 , 王宝义 , 张天保 , 郁伟中 , 何元金 , 王天民

原子核物理评论 doi:10.3969/j.issn.1007-4627.2000.02.012

简要介绍了广泛应用于表面科学的灵敏核探针--慢正电子束设备的原理、构造和应用, 阐述了北京慢正电子束流装置的设计原理和性能, 讨论了北京慢正电子束流装置今后的研究前景.

关键词: 慢正电子束流 , 正电子湮没 , 表面界面

非晶态镍合金渗氢后的正电子寿命谱特征

黄卫东 , 左禹 , 魏龙 , 王文华

腐蚀学报(英文)

测量了非晶态NiCrFeSiB合金电化学渗氢前后的正电子寿命谱,探索氢与非晶态结构中的空位型缺陷的相互作用.合金中主要存在自由体积和空位团两种类型的缺陷,低电流渗氢对缺陷结构无明显影响,高电流渗氢导致空位团型缺陷浓度升高,但不稳定,当氢逸出后又会分解,合金结构恢复到稳定状态.

关键词: 非晶态合金 , hydrogen , positron

La2/3Ca1/3Mn1-xFexO3化合物铁掺杂效应的M(o)ssbauer谱研究

王耘波 , 周文利 , 魏龙 , 于军 , 高俊雄 , 曹国辉

低温物理学报 doi:10.3969/j.issn.1000-3258.2000.05.009

利用固相反应方法制备了名义成分为La2/3Ca1/3Mn1-xFexO3(0.01≤x≤0.20)的一系列样品.在整个掺杂范围内晶体结构没有明显变化.在室温下测量了各样品的Mossbauer谱,拟合结果表明+3价高自旋态的铁离子占据锰的八面体晶位,随Fe掺杂量的增加,铁离子的3d电子出现局域化趋势,并伴随Fe-O配位体畸变程度的增强.本文对此进行了讨论.

关键词:

硅衬底Bi4Ti3O12和Bi3.25La0.75Ti3O12铁电薄膜的慢正电子束研究

王耘波 , 高俊雄 , 郭冬云 , 于军 , 魏龙

功能材料

对硅衬底生长的Bi4Ti3O12和Bi3.25La0.75Ti3O12薄膜样品测量了慢正电子多普勒展宽谱,得到了S参数随正电子注入能量的变化.通过对S参数和W参数的分析,讨论了这类材料中的捕获态特征和结构特点,结果表明,薄膜与硅衬底界面的缺陷为空位-氧复合体,La的掺杂有助于阻止空位-氧复合体向界面的扩散.

关键词: 慢正电子束 , 多普勒展宽谱 , Bi4Ti3O12铁电薄膜 , 缺陷

ZnS基电致发光薄膜及其制备方法

王宝义 , 张仁刚 , 万冬云 , 王雨田 , 魏龙

材料导报

ZnS是一种优良的光电材料并获得了广泛的应用.介绍了ZnS基薄膜电致发光器件的发展历史、结构及发光机理,主要讨论了ZnS基发光薄膜及蒸发法、溅射法、化学气相沉积法、外延法和溶胶-凝胶法等制备方法的最新研究进展,指出了目前存在的问题及今后的发展趋势.

关键词: ZnS薄膜 , 电致发光 , 制备方法

退火温度对CsI(Tl)薄膜微观结构和闪烁性能的影响

程峰 , 钟玉荣2 , 王宝义 , 王天民3 , 魏龙

无机材料学报 doi:10.3724/SP.J.1077.2008.00749

采用真空热蒸发法制备了CsI(Tl)薄膜, 然后进行了不同温度的真空热处理.用X射线衍射仪、扫描电子显微镜、X射线荧光光谱仪及正电子寿命谱仪对CsI(Tl)薄膜样品进行了分析, 并测得了样品的光产额.结果表明, 该CsI(Tl)薄膜沿(200)晶面择优取向生长.经过较低温度退火, CsI薄膜中的Tl+离子向薄膜表面扩散, 薄膜中缺陷数量增加, 且尺寸较大, 光产额略微增高.经过250℃退火, 薄膜中低温退火所形成缺陷得到恢复, 薄膜缺陷尺寸变小, 且数目减少, 具有较好的结晶状态, 光产额提高.经过400℃退火, 薄膜结构发生显著变化, 薄膜中缺陷大幅增加, 结晶状态变差, Ti+含量减少, 光产额急剧下降.

关键词: CsI薄膜 , microstructure , scintillation properties

La1-xCaxMnO3化合物正电子湮没研究

王耘波 , 郭冬云 , 于军 , 曹国辉 , 魏龙

低温物理学报 doi:10.3969/j.issn.1000-3258.2002.03.008

本文对不同Ca含量的La1-xCaxMnO3一系列样品(其中0.05≤x≤0.8)在室温下进行了正电子寿命谱和多普勒展宽谱的测量,结果表明:对应于出现巨磁阻效应的Ca成分范围(0.3≤x≤0.5),正电子的平均寿命τm和多普勒谱S参数随Ca含量的增加而降低,说明在这一成分范围电子局域化程度增强.具有CMR效应的样品La0.7Ca0.3MnO3正电子参数在Tc附近出现与晶格结构不稳定有关的反常变化, 反映出电子结构与CMR效应间的关联.

关键词:

稀磁半导体研究的最新进展

李东 , 王耘波 , 于军 , 王宝义 , 魏龙

功能材料

本文系统地对于DMS的发展历史及研究现状进行了归纳总结,介绍了稀磁半导体特殊性质和机理,概述了目前DMS材料的制备方法,并对于DMS的应用前景和将来的研究方向进行了展望.

关键词: 稀磁半导体 , 居里温度 , 自旋-自旋交换 , 分子束外延法

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