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多层片式陶瓷电容器容量命中率的研究

张启龙 , 杨辉 , 王家邦 , 魏文霖

材料科学与工程学报 doi:10.3969/j.issn.1673-2812.2003.01.020

多层片式陶瓷电容器(MLCC)容量命中率低是生产中普遍存在的问题.本文通过微观结构、金属层和介质层厚度、以及工序因素分析,探讨了引起MLCC容量分散的主要原因,提出了工序中应控制的因素,为MLCC生产过程控制、提高容量命中率提供了依据.

关键词: 多层陶瓷电容器 , 微观结构 , 命中率

掺杂ZnO-B2O3低温烧结BiNbO4介质陶瓷的研究

张启龙 , 杨辉 , 魏文霖 , 王信权 , 陆德龙

硅酸盐通报 doi:10.3969/j.issn.1001-1625.2004.04.021

研究了烧结助剂ZnO-B2O3对BiNbO4陶瓷烧结特性及介电性能的影响.结果表明:ZnO-B2O3形成晶界玻璃相存在于晶粒之间,促进烧结,大幅度降低BiNbO4陶瓷的烧结温度,促使瓷体晶粒尺寸均匀和致密;但ZB的质量分数大于3%,阻碍晶粒长大,破坏晶体结构和排列,导致材料的缺陷和本征损耗增加,从而降低材料的介电性能.ZnO-B2O3的掺杂量以1%为最佳,在880℃保温4h,可达到97%理论密度,在100MHz测试频率下,εr=42,tanδ＜1.5×10-3.

关键词: 低温烧结 , 介电性能 , 微波介质陶瓷 , BiNbO4陶瓷

SiON薄膜中氢的研究

魏文霖 , 孟祥森 , 袁骏 , 杨辉 , 葛曼珍 , 季振国

材料导报

氮氧化硅(SiON)薄膜是一种新型的薄膜材料,具有优良的充电性能、机械性能、钝化性能和化学稳定性能,但杂质氢的存在限制了它的应用.详细阐述了氮化硅薄中氢杂质的存在活动及其对薄膜性能的影响,并提出了降低氢含量的合理方法.

关键词: 氮氧化硅 , 薄膜 , 性能 , 杂质 , 氢

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