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CdZnTe晶体的缺陷能级分析

韦永林 , 朱世富 , 赵北君 , 王瑞林 , 高德友 , 魏昭荣 , 李含东 , 唐世红

人工晶体学报 doi:10.3969/j.issn.1000-985X.2004.02.014

通过测试富Cd原料无籽晶垂直布里奇曼法生长出的高阻Cd0.8Zn0.2Te (CZT)单晶体的I-T特性曲线,利用热激活能原理来分析单晶体内的缺陷,结果得到晶体中有一个由镉空位引起的电子陷阱,其深度为0.539eV.由于俘获能级有较高的激活能,在常温下,价带上的载流子不会被激发,所以该晶体适用于制作室温核辐射探测器.另外还研究了CZT晶体在室温下的I-V特性,测得采用该方法生长的CZT单晶体电阻率高达5.0×1010Ω*cm,制作的核辐射探测器在室温下获得了比较好的241Am 59.5keV能谱.

关键词: CZT单晶体 , I-T特性曲线 , 激活能 , 探测器 , 缺陷能级

CdZnTe晶体(111)面、(110)面和(100)面的蚀坑形貌观察

陈俊 , 朱世富 , 赵北君 , 高德友 , 魏昭荣 , 李含冬 , 韦永林 , 唐世红

功能材料

利用CdZnte晶体晶面夹角之间的关系采用激光正反射法对改进布里奇曼法生长的CdZnTe单晶进行定向,研磨出了CdZnTe单晶体的(111)、(100)面.采用自行研制的HHKA腐蚀液对三个面进行择优腐蚀,得到了(111)、(100)和(110)面的腐蚀照片,并计算出了蚀坑密度(EPD)约为104~105/m2数量级.结果表明生长晶体的质量较好.

关键词: 晶体生长 , 蚀坑密度 , 布里奇曼法 , 晶体定向

碲锌镉单晶体的(110)面蚀坑形貌观察

高德友 , 赵北君 , 朱世富 , 王瑞林 , 魏昭荣 , 李含冬 , 韦永林 , 唐世红

人工晶体学报 doi:10.3969/j.issn.1000-985X.2004.02.012

本文报道了一种能够在室温下择优腐蚀碲锌镉(CZT)单晶体(110)晶面的腐蚀液配方,并对富Cd生长的CZT晶体蚀坑形貌进行了扫描电镜观察.结果表明晶体(110)面腐蚀坑形状为三角形,并初步对蚀坑的成因进行了分析,估算出CZT(110)面蚀坑密度约为103~105/cm2数量级.这说明富Cd原料的改进布里奇曼法可以生长出低蚀坑密度的CZT单晶体.

关键词: 碲锌镉 , 单晶体 , 蚀坑观察 , SEM形貌

室温半导体核辐射探测器新材料及其器件研究

朱世富 , 赵北君 , 王瑞林 , 高德友 , 韦永林

人工晶体学报 doi:10.3969/j.issn.1000-985X.2004.01.002

本文论述了室温半导体核辐射探测器新材料及其探测器的研究发展过程和最新动态,分别介绍了几种主要室温半导体核辐射探测器新材料晶体的组成、结构、性能及其探测器的制备技术,主要应用情况.结果表明:HgI2、CdZnTe和CdSe单晶体是性能优异的室温半导体核辐射探测器新材料,用其制作的探测器,可在室温下广泛用于环境监测、核医学、工业无损检测、安全检查、核武器突防、航空航天、天体物理和高能物理等领域.因此,近年来对大尺寸高质量HgI2、CdZnTe和CdSe单晶体及其室温核辐射探测器的研究,已成为高技术新材料领域的前沿研究课题.

关键词: 半导体新材料 , 室温核辐射探测器 , 制备技术 , 性能 , 应用

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