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C底层厚度对FePt(001)织构生长的影响

刘梅 , 陈芳慧 , 王永红 , 张玉梅 , 李海波

兵器材料科学与工程 doi:33-1331/TJ.20110704.2224.006

采用直流磁控溅射在表面氧化的Si (001)基片上制备了FePt/C纳米薄膜,将薄膜样品经过600℃真空退火处理1h获得L10-FePt薄膜.用X射线衍射仪(XRD)、振动样品磁强计(VSM)和扫描探针显微镜(SPM)对样品的结构、磁性和表面形貌进行测量和分析.结果表明:随着C底层厚度的增加,L10-FePt薄膜(001)取向度增强,有序化程度提高,矫顽力增大;C溅射时间为180s时,获得了具有(001)织构生长的L10-FePt薄膜.

关键词: 磁控溅射 , FePt合金 , 织构 , 磁性

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