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基于直流磁控溅射晶种层的ZnO纳米阵列的制备及性能研究

王璟 , 丁雨田 , 张杨 , 陈小焱 , 张增明 , 尚兴记

人工晶体学报

采用直流反应磁控溅射法制备品种层薄膜,研究O2/Ar气体分压比和退火温度对品种层结构和微观形貌的影响.通过化学水浴沉积,在预制有晶种层的薄膜上制备ZnO纳米阵列结构,研究不同前驱体浓度和预制晶种层对纳米阵列生长的影响.结果表明,当O2/Ar中O2分压减少,薄膜均匀性较差,当Ar分压增加薄膜由于扩散而趋于平整.退火温度增加,晶粒尺寸增大,内应力降低.磁控溅射法预制的晶种层上生长的纳米棒垂直于衬底生长,(002)晶面的衍射峰强最高,说明纳米棒沿c轴择优取向.生长液的浓度对纳米棒的形貌影响显著,随着生长液浓度的升高,ZnO纳米阵列直径增大,顶端趋于平整的六棱柱结构.

关键词: 直流磁控溅射 , 晶种层薄膜 , 纳米阵列 , ZnO

直流磁控溅射制备ZAO透明导电薄膜及性能研究

陈小焱 , 王璟 , 丁雨田

功能材料

运用直流磁控溅射法,采用ZAO陶瓷靶材(Al2O3相对含量2%(质量分数)),结合正交实验表通过改变制备工艺中的基片温度、溅射功率、氧流量百分比等参数,在普通玻璃衬底上制备得到ZnO:Al(ZAO)透明导电薄膜.通过X射线衍射仪(XRD)、扫描电镜(SEM)、荧光分光光度计、四探针测试仪对样品的晶体结构、表面形貌、光电性能进行表征分析.通过正交分析法得出直流磁控溅射法制备ZAO薄膜的最佳组合工艺为基片温度200℃,溅射功率40W,氧流量百分比20%,退火温度400℃,获得薄膜样品最低方块电阻11Ω/(口),薄膜具有最好的发光性能,适合作为薄膜太阳电池的透明导电电极.

关键词: ZAO薄膜 , 直流磁控溅射 , 正交实验 , 光电性能

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