张守超
,
阮永丰
,
李广慧
,
孙伟
,
马鹏飞
,
王丹丽
,
李文润
人工晶体学报
报道了上转换激光晶体Er:BaY2F8以及Er,Yb:BaY2F8的温度梯度法生长及其光谱参数分析.所得到的Er:BaY2F8晶体的直径为13 mm,长度达40 mm,是目前国内最大的此种晶体.测试了晶体的吸收光谱,吸收光谱中Er离子的特征吸收峰清晰可辨.根据J-O理论的计算,得到了唯象的晶场参数Ω...
关键词:
Er
,
BaY2F8
,
晶体生长
,
温度梯度
,
上转换激光
,
光谱参数
,
荧光寿命
马鹏飞
,
阮永丰
,
贾敏
,
李文润
,
张宇晖
,
张守超
,
王丹丽
硅酸盐通报
用剂量为5.74×1018 cm-2的中子对Al2O3晶体进行了辐照,利用吸收光谱等手段观测了中子辐照引起的损伤及其恢复.中子辐照产生了大量的阴离子单空位(F和F+)、阴离子双空位(F2)及其它更高阶的缺陷.通过等时退火,发现低阶的阴离子单空位缺陷在较低温度下即可恢复,而高阶的缺陷则会在退火过程中得...
关键词:
Al2O3
,
中子辐照
,
缺陷
,
吸收光谱
阮永丰
,
马鹏飞
,
贾敏
,
李文润
,
张宇晖
,
张守超
,
王丹丽
人工晶体学报
分别对两种不同的6H-SiC晶体进行了总通量为5.74×10~(18) n· cm~(-2)、8.2×10~(18) n· cm~(-2)和1.72×10~(19) n· cm~(-2)的不同剂量的中子辐照,利用X射线衍射等手段观测了中子辐照引起的晶体内部损伤.结果表明:两种样品在不同的中子通量辐照...
关键词:
SiC
,
中子辐照
,
辐照缺陷
,
钉扎
王丹丽
,
阮永丰
,
张灵翠
,
邱春霞
,
房东玉
,
杨红波
人工晶体学报
利用直流电沉积法在阳极氧化铝模板的有序孔洞中生长了氧化锌纳米线,首次在氧气氛围中将锌氧化成氧化锌.用场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)和X射线衍射仪(XRD)对其形貌及成分进行表征和分析.结果表明,氧化铝模板的有序孔洞中填充了高致密、均一连续的锌纳米线.在氧气氛围中,800 ℃下氧化2 h,氧化铝...
关键词:
阳极氧化铝
,
氧化锌纳米线
,
电沉积法
张守超
,
阮永丰
,
王帅
,
王友发
,
吴周礼
人工晶体学报
采用温度梯度法生长了BaY2F8晶体,通过X射线定向仪确定晶体自发沿[001]方向生长.通过对不同截面的显微观察和分析,研究认为生长方向与竖直方向不平行是诱发(100)、(130)、(130)等小面生长的重要因素.由于温度的波动和径向温度梯度的存在,会造成晶体生长过程中的组分过冷,引发晶面上出现胞状...
关键词:
BaY2F8晶体
,
小面生长
,
组分过冷
,
界面形状
,
缺陷
张守超
,
阮永丰
,
王友发
,
吴周礼
,
王帅
,
贾国治
中国稀土学报
采用中频感应提拉法生长了高质量的掺铈钒酸钇( Ce:YVO4)晶体,其中Ce3+离子的浓度为1.0％(原子分数).对于加工好的晶体薄片分别在中性气氛Ar和还原性气氛H2中不同温度下进行了退火处理.对退火后的样品进行了吸收光谱和荧光光谱的测量.中性Ar中退火对晶体发光效率提高没有作用,H2退火后晶体吸...
关键词:
Ce: YVO4
,
退火
,
荧光光谱
,
白光
,
发光效率
,
稀土
王丹丽
,
阮永丰
,
张灵翠
,
王鹏飞
,
邱春霞
,
祝威
人工晶体学报
多孔阳极氧化铝作为一种理想的模板材料,在纳米合成和微纳米技术领域有广泛的应用,然而氧化铝模板在高温退火时会发生卷曲,这大大限制了它的应用.本文就氧化铝模板的热卷曲问题进行了系统的研究,认为退火时产生次孔是导致模板卷曲的直接原因.并首次提出了采用加压退火方法,有效地解决了退火卷曲问题.文中报告了诸多A...
关键词:
多孔阳极氧化铝
,
卷曲
,
高压退火
翟影
,
阮永丰
,
张灵翠
,
刘雅丽
,
邱春霞
人工晶体学报
采用化学浴沉积法在ITO导电玻璃衬底上制备了ZnO纳米棒膜层,构建了无绝缘层和添加Alq3为绝缘层的两类ZnO发光器件,测试和比较了两类器件的光致发光与电致发光特性.结果表明,在ZnO和Alq3混合体系的PL谱中,观察到ZnO的380nm发光减弱而Alq3的520 nm发光增强,这表明在ZnO的激子...
关键词:
ZnO纳米棒
,
电致发光
,
随机激光
祝威
,
黄丽
,
陈敬
,
侯贝贝
,
王鹏飞
,
阮永丰
人工晶体学报
本文利用吸收光谱法、光致发光光谱法和拉曼光谱法对中子辐照的α-Al2O3进行研究.吸收光谱表明,中子辐照除产生F2、F2+、F2+2和F3色心外,还能产生[Al-O]3-色心,它对应着325 nm和638 nm两个吸收峰,且具有较低的热稳定性,经300℃退火后消失.光致发光谱法除了检测到F2、F2+...
关键词:
Al2O3
,
中子辐照
,
色心
,
光学性质
