邱玮丽
,
马晓华
,
杨清河
,
付延鲍
,
宗祥福
复合材料学报
doi:10.3321/j.issn:1000-3851.2004.04.011
用衰减全反射红外光谱(FTIR-ATR)技术研究了纳米SiO2粒子在紫外光固化复合涂层中的迁移现象,并对影响纳米SiO2粒子在涂层中分布梯度的因素进行了半定量分析.研究结果表明,纳米SiO2粒子在光固化过程中向涂层接触空气的表面迁移,在表面层富集.当纳米SiO2粒子含量较高、分子量较小、接枝率较高,或者在极性较大的基体树脂中时,迁移较快,分布梯度较大.
关键词:
衰减全反射红外光谱(FTIR-ATR)
,
纳米SiO2
,
紫外光固化复合涂层
邱玮丽
,
杨清河
,
马晓华
,
陆震
,
付延鲍
,
宗祥福
复合材料学报
doi:10.3321/j.issn:1000-3851.2005.02.004
以含有纳米SiO2的聚乙二醇二丙烯酸酯(PEGDA)为单体,加入液态电解质,通过紫外光辐射固化制备了凝胶态纳米复合聚合物电解质(NCPE).含有纳米SiO2的PEGDA单体是以水性硅溶胶为原料,通过一个溶剂交换过程制备的,与此同时纳米SiO2的表面通过加入甲基丙烯酰氧丙基三甲氧基硅烷(MAPTMS)进行改性,使其表面具有可以参与光固化的丙烯酸酯基团.与用不含纳米粒子的PEGDA单体制备的凝胶态聚合物电解质相比,纳米复合聚合物电解质的电导率更高,尤其是电化学稳定性和界面稳定性有明显提高.
关键词:
纳米复合聚合物电解质
,
纳米SiO2
,
聚乙二醇二丙烯酸酯(PEGDA)
,
紫外光辐射固化
,
水性硅溶胶
,
凝胶态聚合物电解质
