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FA/OⅡ型螯合剂对多层Cu布线CMP后BTA去除的研究?

邓海文 , 檀柏梅 , 张燕 , 高宝红 , 王辰伟 , 顾张冰

功能材料 doi:10.3969/j.issn.1001-9731.2016.06.038

在化学机械抛光(CMP)过程中,加入苯并三氮唑(BTA)抑制 Cu 界面和布线条的腐蚀.但同时,会与Cu发生化学反应生成的Cu-BTA钝化膜是CMP后主要的清洗对象之一.采用FA/OⅡ型螯合剂作为清洗液的主要成分,采用接触角测试仪及原子力显微镜来表征BTA的去除效果.通过改变 FA/OⅡ型螯合剂的浓度完成一系列对比实验,确定最佳的清洗效果.通过对比实验得知,当清洗液中螯合剂的浓度为1.50×10-4~200×10-4时,此时清洗液的pH 值>10,能有效去除Cu-BTA 钝化膜以及其它残留的有机物,接触角下降到29°,表面的粗糙度较低.

关键词: CMP后清洗 , FA/OⅡ螯合剂 , Cu-BTA钝化膜 , 接触角 , 粗糙度

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