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高建阳 , 王志 , 贾显鹏 , 赵秀芳 , 王立家
人工晶体学报 doi:10.3969/j.issn.1000-985X.2004.03.032
本文介绍了电子显微镜、X射线衍射、氮吸附小比表面法、红外光谱结构分析、研磨法等用于陶瓷氧化铝晶粒度测定的情况,通过对比,指出了电子显微镜能够真实地反映微观世界,是多种分析方法的基础.
关键词: 陶瓷氧化铝 , 晶粒度 , 电子显微镜 , 测定技术
