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宋兆华 , 武映梅 , 谢桂龙
冶金分析 doi:10.3969/j.issn.1000-7571.2004.z1.054
利用X射线荧光光谱仪测定转炉渣中的TFe,SiO2,CaO,MgO,MnO,P2O5,Al2O3等主要化学成分的含量,采用自制标样绘制工作曲线,利用光谱干扰校正系数和基体效应校正系数消除光谱干扰和基体效应.实验表明:该方法简便快速,有良好的精密度和准确度,所得结果与湿法化学分析结果一致.
关键词: X射线荧光光谱 , 光谱干扰 , 基体效应 , 渣
