曲哲
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谢天生
金属学报
对均匀二元合金的表面进行机械清洁处理,得到元素深度分布为已知的试样,并对这样的试样做了离子剥离逐层分析.试验结果表明,Auger-离子剥离逐层分析得到的元素分布不能精确地反映元素的真实分布.除因选择性剥离造成的稳定态浓度偏离体浓度外,有时还在近表面处出现一个元素“贫乏层”(或富集层).本文也对引起逐层分析曲线“失真”的原因及用这种方法做逐层分析时应注意的问题做了简单说明.
关键词:
俄歇离子剥离
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scraped surfaces
平德海
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李阁平
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谢天生
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李斗星
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叶恒强
材料研究学报
加入6mg·g(-1)Nd的非晶Ti_(80)Si_(20)合金,在550—700退火1h后,可形成Ti_3Si基体相与弥散分布的α—Ti颗粒组成的纳米复合材料.X射线及电子衍射分析表明:在晶化过程中,初始析出相为小颗粒的α-Ti,随后析出主相Ti_3Si和少量Ti_5Si_3,但未见稀土相形成.用高分辨电镜研究了Ti_3Si的亚晶结构.
关键词:
Ti-Si-Nd合金
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null
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曲哲
,
谢天生
金属学报
<正> Auger电子能谱分析与惰性气体离子刻蚀技术相配合测量元素的浓度-深度分布曲线,已广泛用于表面研究中。本工作提出了一个描述离子剥离过程中表层浓度与体内浓度和元素剥离系数之间的关系的数学模型。采用一般文章中常用的假定:(1)当离子能量不高时,被溅射原子只来自表面第一层,(2)每种元素的剥离系数在一定的浓度范围内变化不大,近似地看作是常数,(3)在所研究区域内离子的通量
关键词:
平德海
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谢天生
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金志雄
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李斗星
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叶恒强
金属学报
Ｔｉ（７０）Ｎｉ（２０）Ｓｉ（１０）非晶合会在５００－８００℃范围内经１ｈ退火后。可形成平均晶粒度为８－１２０ｎｍ的纳米合金．Ｘ射线衍射（ＸＲＤ）和透射电镜（ＴＥＭ）的结果表明。不同平均晶粒度的纳米合金样品中，相的组成相同．即Ｔｉ２Ｎｉ和Ｔｉ５Ｓｉ３以及少量的α－Ｔｉ晶体相．显微硬度（ＨＶ）的测量表明，纳米合金样品的显微硬度值比铸态或非晶态样品高一倍左右，但是，随着平均晶粒度的减小，硬度值的变化并不满足线性的Ｈａｌｌ－ｐｅｔｃｈ关系。
关键词:
Ｔｉ－Ｎｉ－Ｓｉ纳米合金
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annealing
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TEM
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microhardness
谢天生
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杜昊
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孟祥敏
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孙超
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闻立时
金属学报
用磁控溅射方法在聚合物薄膜基体上制备出不同厚度的纳米Ti膜.扫描隧道显微镜(STM)的观察结果表明,初期膜是由直径小于2 nm的形核粒子和粒子团聚体组成.粒子沉积呈岛状生长形成纳米晶粒结构.随薄膜厚度增加,平均晶粒尺寸增加,形成大尺寸晶粒的连续薄膜.分析和讨论了薄膜生长过程的结构特征及溅射条件对薄膜结构的影响.
关键词:
磁控溅射
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null
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