曹军
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范俊玲
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薛铜龙
材料科学与工艺
研究了不同性能镀钯铜线对其键合质量的影响，分析了不同钯层厚度、不同延伸率和拉断力、镀钯铜线热影响区长短对铜线键合质量的作用机制。研究结果表明：镀钯铜线钯层厚度过小会造成Electronic-Flame-Off（ EFO）过程中的Free Air Ball（ FAB）偏球、第一焊点形状不稳定及钯层分布不均匀；延伸率过小和拉断力过大会造成焊点颈部应力集中，并产生微裂纹而造成焊点的拉力和球剪切力偏低；镀钯铜线的高强度和低延伸率降低其再结晶温度，造成长的热影响区和颈部晶粒粗大，降低其力学性能，焊接过程中产生颈部裂纹和塌丝。
关键词:
镀层厚度
,
延伸率
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拉断力
,
热影响区
,
键合
