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电子通道显微术观察多晶位向衬度

蓝芬兰 , 廖乾初 , 王洪君 , 王云

金属学报

为了从多晶试样的表面显示多晶试样的结晶学衬度,文中对两种电子光学光路进行了探讨。分析结果表明: 1.对标准扫描光路,电子通道显微像的放大倍数是由电子束的扫描角范围控制,而几何衬度和结晶学衬度的比例可通过讯号处理方法来调节; 2.对欠聚焦摇摆光路,电子通道显微像的放大倍数由失焦距离控制,而从变形试样所获得的异常位向衬度效应有可能通过重叠在电子通道显微像上的电子通道花样来注释。 文中用W,Mo和奥氏体不锈钢等试样进行了观察,本方法有可能用来研究多晶材料的位向分布和形变行为。

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一种快速注释电子通道花样的方法

蓝芬兰 , 廖乾初

金属学报

<正> 在扫描电子显微镜中,利用晶体试样对高能电子的电子通道效应所获得的图样,称为电子通道花样,它在外貌上,颇类似于从透射电子显微镜所获得的菊池花样,也是由一系列规则分布的、具有明显不同衬度的带组成,这些具有不同衬度的带称为某(hkl)晶面的电子通道带(或简称为通道带)。电子通道花样中所显示的衬度和角分辨率同晶体的表面状态和完整性有关;在几何关系上,每一通道带是同晶体试样中一定的(h

关键词:

高强钢疲劳断口的扫描电镜观察和裂纹扩展机制的探讨

孙福玉 , 廖乾初 , 蓝芬兰 , 刘才穆 , 刘建华

金属学报

利用扫描电镜对两种高强钢的疲劳断口进行了观察,并参照裂纹扩展速率曲线(log da/dN-log△K)进行了分析,其结果如下: (1)在对应低速率区的断口表面存在三个特征形貌区,这表明在该区的裂纹扩展过程具有三个阶段:裂纹形成,微裂纹扩展,和一个受沿晶开裂机制和穿晶疲劳条纹生长机制所控制的过渡阶段. (2)在中速率区,疲劳裂纹扩展的发生主要是受疲劳条纹生长机制作用.但是,发现疲劳条纹间距S并不与宏观裂纹扩展速率dα/dN相一致. (3)在高速率区,裂纹扩展速率行为是由疲劳条纹生长机制和韧窝机制所控制.有关这两种机制的相互作用和韧窝生长规律都进行了定量研究.

关键词:

体心立方金属的蚀坑性质及其晶体位向的定量分析技术

廖乾初 , 王鸿君 , 王云 , 蓝芬兰

金属学报

借助于金相显微镜和扫描电镜,探讨了bcc金属中蚀坑形状和晶粒位向的关系。晶粒的位向采用扫描电镜电子通道花样技术确定,实验结果表示在单位赤面投影三角形中。 采用矢量分析和坐标变换方法,推导了一组描述蚀坑形状和晶粒位向的关系式,并用理论计算数据制成图表。应用这些图表,可以迅速地确定晶粒位向。 因为蚀坑形状是以方位角(θ,φ)的连续函数来描述,故晶粒位向的分析结果可直接表示在单位赤面投影三角形中,且易于确定晶界的变换矩阵。 应用本文的蚀坑分析技术,曾对一些冶金问题进行了探讨。

关键词:

确定晶界几何结构的新方法

廖乾初 , 蓝芬兰 , 王文侠

金属学报

<正> 相邻两晶粒间的位向关系是描述晶界几何结构的重要参数之一。目前,主要的实验方法是:X射线衍射法,电子衍射法,菊池花样法等几种。应用这些方法所得的结果,再结合数学上求矩阵的方法,就可确定两晶粒间的位向差、回转轴和晶界面的位向关系等。

关键词:

在扫描电子显微镜中确定断裂面结晶学性质的技术

廖乾初 , 孙福玉 , 蓝芬兰

金属学报

文中介绍了确定断裂面的结晶学性质的一些技术: 1.电子通道图分析技术; 2.表面特征痕迹分析技术; 3.二面角分析技术; 4.蚀坑分析技术。 对上述技术所存在的问题和局限性进行了讨论,表明这四种技术是互为补充的。根据断裂性质,可以选用其中一种技术去分析其断裂面的结晶学位向。

关键词:

准解理断裂的本质

廖乾初 , 孙福玉 , 蓝芬兰

金属学报

本文试图探讨准解理断裂的本质。联系多晶材料的典型应力一应变曲线,对不同钢的断裂韧度试样的断口分析表明,准解理断裂可以看作是一种过渡的断裂机制。首先,一系列微观解理裂纹在高拉伸应力集中地方生核,然后这些裂纹各自沿着它本身已变形晶粒的解理面上扩展,最后借助于微观塑性聚合方式,这些微裂纹彼此连接。根据上述断裂模型可以认为:解理裂纹与塑性变形间的相互作用是准解理断裂的一种重要性质。借助于断口定量分析方法,有可能把断口形貌和一些力学参数间关系建立起来。

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