祝国珍
中国材料进展
doi:10.7502/j.issn.1674-3962.2016.05.04
随着薄膜制备技术的发展和理想氧化物界面的实现，氧化物界面表现出如超导性等诸多优异特性，成为新一代电子器件的有力候选材料。相较金属和半导体界面而言，氧化物界面的特性更具有局域性，故阐明其界面处的原子／电子结构显得更为重要。界面并不能独立于体相而单独存在，因此研究界面问题的关键是如何提取掩埋在体相中的微弱界面信息。透射电子显微镜作为一种表征局域结构的手段，同时又具备多种技术可实现成像、衍射以及能谱分析，故成为表征氧化物界面的有力工具。通过制备截面样品，可得到氧化物界面在不同投影面的二维结构，进而重构界面的三维原子结构。此外，通过采集包含不同比重界面信号的一组实验数据，可通过数学分析方法分离出界面信号。这种方法在研究界面和界面的电子结构等问题上具有一定优势。
关键词:
氧化物
,
界面
,
透射电子显微术
,
原子结构
,
电子结构
