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i基区渐变掺杂SiGe/Si异质结开关功率二极管的特性模拟

祁慧 , 高勇 , 余宁梅 , 马丽 , 安涛

功能材料与器件学报 doi:10.3969/j.issn.1007-4252.2003.04.015

提出了在SiGe/Si异质结开关功率二极管的本征i区中采用掺杂浓度三层渐变式结构.由Medici模拟所得的特性曲线表明,该结构在正向I-V特性基本不发生改变的前提下,与i区固定掺杂结构相比具有更好的反向恢复电流与反向恢复电压特性,尤其软恢复特性更加明显,反向恢复过程加快.还对渐变掺杂所得到的优越性能进行了分析,从理论上给出了较好的解释.

关键词: SiGe/Si异质结 , PIN二极管 , 渐变掺杂 , Medici , 软恢复

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