许华嵘
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吴立勇
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施建荣
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曹春海
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蔡卫星
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孙国柱
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王相元
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钱鉴
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杨森祖
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吉争鸣
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程其恒
,
吴培亨
低温物理学报
doi:10.3969/j.issn.1000-3258.2002.04.006
本文主要介绍了按照目前国际上制定的超导薄膜表面阻抗Rs标准测量方案(IEC/TC90)设计并制造的Rs标准测量系统,对实验过程中系统的细节作了改进,测试精度及可靠性作了分析,实验及结果证明该标准的可行性,同时说明了我们的测试系统符合国际超导薄膜表面阻抗Rs标准测量的要求.
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