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王红锋 , 王水婷
材料开发与应用 doi:10.3969/j.issn.1003-1545.2003.04.013
对金属材料ICP-AES分析中基体干扰的种类及其校正技术和适用条件进行了评述.
关键词: ICP-AES , 基体干扰 , 校正技术