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刘伟 , 周先意 , 张宪峰 , 袁松柳 , 李广 , 杜江峰 , 范扬眉 , 叶邦角 , 翁惠民 , 韩荣典
低温物理学报 doi:10.3969/j.issn.1000-3258.2000.03.012
为研究超大磁阻材料的掺杂效应,我们测量了(La1-xYx)2/3Ca1/3MnO3系列样品的正电子寿命谱,并结合X射线衍射和电阻温度关系的测量结果,系统地研究了Y掺杂引起的样品局域电子结构和空位型缺陷的变化,并提出了局域电荷转移的观点,解释正电子体寿命的变化.
关键词:
