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采用TE015模高Q圆柱腔对X波段低损耗介质材料的复介电常数进行了变温测试,电场的极化方向平行于样品表面.可测温度范围为常温到200℃.在所有温度点上,空腔的无载品质因数均大于40000.复介电常数的测试范围为εr:1.05～10,tanδ:3×10-2～5×10-5,测试系统的最可几误差为|Δεr / εr|=1.5% ,|Δtanδ|=10% tanδ+3.0×10-5.

关键词: 低损耗介质 , 复介电常数 , 变温 , 圆柱腔 , 微波测量

高温高Q腔法介电性能测试系统稳定性研究

何凤梅 , 李恩 , 李仲平 , 张大海 , 陈聪慧

宇航材料工艺 doi:10.3969/j.issn.1007-2330.2009.01.022

经测试原理分析,证明了高温空腔(测试腔体内无样品)特性(主要指谐振频率和品质因数)的准确性和稳定性是保证样品高温介电性能测试结果准确性和稳定性的必要条件.进行了室温～1 600℃定点温度下恒温时间为3、5和8 min、7～18 GHz的空腔特性测试,结果表明谐振频率相互之间相对偏差±0.05%,品质因数相互之间相对偏差<±5%,验证了恒温时间为3 min时可获得准确的高温空腔特性数据.还在不同时间不同季节多次对空腔进行了室温～1 600℃、7～18 GHz空腔特性测试,结果表明谐振频率之间相对误差<±0.04%,品质因数之间的相对误差<±5%,进一步验证了该测试系统可获得准确稳定的测试结果.

关键词: 高Q腔法 , 高温 , 介电性能 , 测试系统 , 稳定性

介质材料复介电常数变温测量技术综述

何小瓦 , 李恩 , 张其劭 , 郭高凤

宇航材料工艺 doi:10.3969/j.issn.1007-2330.2005.01.005

介绍了在微波及毫米波段介质材料复介电常数在-253～1 400℃的变温测试方法,即网络参数法和谐振腔法,并对这些方法进行了优缺点分析,总结出变温测试方法的概况、趋势及技术特点.

关键词: 复介电常数 , 变温 , 微波测量

高强度单组份环氧胶粘剂的制备及其性能研究

李恩 , 虞鑫海 , 徐永芬 , 刘万章

绝缘材料 doi:10.3969/j.issn.1009-9239.2012.01.004

利用3,5-双(4-氨基苯氧基)苯甲酸(35BAPBA)、丁腈橡胶、活性稀释剂对环氧ES216进行改性,加入潜伏性固化剂,制备了一种高强度单组份环氧树脂胶粘剂.结果表明:该新型环氧树脂胶粘剂的剪切强度为24.7 MPa,初始热分解温度为375.1℃,表面能为43.1 mJ/m2,远小于水的表面能,具有良好的疏水性、力学性能和耐热性能.

关键词: 环氧树脂 , 胶粘剂 , 高强度 , 性能

自由空间法测量电磁材料电磁参数

王依超 , 郭高凤 , 王娟 , 李恩 , 郑虎

宇航材料工艺 doi:10.3969/j.issn.1007-2330.2014.01.022

基于对自由空间法测试材料电磁参量原理的研究,对传统方法进行分析及改进,解决了测试过程中透射系数存在的相位模糊性和由于S11→0时导致的半波谐振问题,最后搭建了测试系统,并使用该系统对常见的微波介质材料在2～ 18 GHz频带下进行了电磁参数的测试.结果表明,由于天线性能特性的限制,此测试系统4 ～ 14 GHz范围内具有良好的效果.此测试系统具有测试速度快、结构简单、方便准确的定位、测试精度高等特点.

关键词: 自由空间法 , 相位模糊性 , 半波谐振性 , 加脊喇叭天线

透波材料高温介电性能评价表征

陈聪慧 , 何凤梅 , 李恩 , 李琦

宇航材料工艺 doi:10.3969/j.issn.1007-2330.2011.02.009

概述了透波材料高温介电性能评价表征的研究意义及相关的基本概念、测试方法;介绍了国内外发展现状,以高Q腔法为例阐述了高温测试中关键共性技术,并对典型测试结果进行了分析;展望了透波材料高温介电性能评价表征的发展及应用前景.

关键词: 透波材料 , 高温测试 , 介电性能

耐高温聚酰亚胺漆包线漆及其漆包线的研制

樊良子 , 虞鑫海 , 李恩 , 邵武军 , 涂张应

绝缘材料 doi:10.3969/j.issn.1009-9239.2011.05.005

制备了一种聚酰亚胺漆包线漆及其漆包线,并对其进行了红外光谱分析及性能测试.结果表明:该漆包线具有优良的耐热性,玻璃化转变温度达293℃,软化击穿温度和击穿电压明显高于240级芳香族聚酰亚胺漆包圆线的标准要求.

关键词: 聚酰亚胺 , 漆包线漆 , 漆包线 , 耐高温

高Q腔法测试透波材料毫米波复介电常数

吴超 , 李恩 , 郭高凤 , 何凤梅

宇航材料工艺 doi:10.3969/j.issn.1007-2330.2009.01.023

介绍了透波材料毫米波复介电常数自动测试方法,采用高Q腔一腔多模扫频(18～40 GHz)方法测试了微波低损耗圆盘状介质材料,谐振腔工作在TE10p模式,电场的极化方向平行于样品表面.为适应毫米波段材料测试的要求,在设计测试用宽频高Q值谐振腔时,改变以往工作中腔壁开槽位置以抑制TM1mn简并模,对测试用谐振腔的设计大大减小了测试误差.用此系统对几种低损耗材料进行测量,结果证明谐振腔有效Ё抑制了干扰模式,减小了测试误差.对测试结果进行了误差分析,系统的最可几测试误差为:|△εr/εr|=2%;|△tanδ|=10%tanδ+5×10-5.

关键词: 圆柱谐振腔 , 复介电常数 , 微波测试