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直流磁控溅射铝纳米颗粒膜的微结构及电学特性

花银群 , 朱爱春 , 陈瑞芳 , 郭立强

功能材料 doi:10.3969/j.issn.1001-9731.2015.04.014

采用直流磁控溅射法,以高纯铝(99.99%)为靶材,高纯氩气(99.999%)为起辉气体,在经机械抛光的单晶 Si 衬底上制备铝纳米颗粒薄膜.利用 X 射线衍射仪(XRD)、光学薄膜测厚仪、扫描电子显微镜(SEM)和四探针测试仪分别测试了铝纳米颗粒薄膜的晶相结构、薄膜厚度、表面形貌及电阻率.XRD 衍射图谱表明此薄膜为面心立方的多晶结构,择优取向为Al(111)晶面.随溅射功率由30 W 增至300 W,铝纳米颗粒薄膜的沉积速率由3.03 nm/min 增加至20.03 nm/min;而随溅射压强由1 Pa 增加至3 Pa,沉积速率由2.95 nm/min 降低到1.66 nm/min.在溅射功率为150 W,溅射压强为1.0 Pa 条件下制备的样品具有良好的晶粒分布.随溅射功率从80 W 增大到160 W,样品电阻率由4.0×10-7Ω· m 逐渐减小到1.9×10-7Ω·m;而随溅射压强从1 Pa 增至3 Pa,样品电阻率由1.9×10-7Ω·m 增加到7.1×10-7Ω·m.

关键词: 直流磁控溅射 , 铝纳米颗粒薄膜 , 沉积速率 , 微结构 , 电阻率

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