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倒装焊Sn-Pb焊点的热疲劳失效

张群 , 陈柳 , 程波 , 徐步陆 , 王国忠 , 程兆年 , 谢晓明

金属学报

对倒装焊Sn-Pb焊点进行了热循环实验,结合三维全局有限元模拟的结果,研究了Sn-Pb焊点热疲劳失效.结果表明,充胶后焊点内塑性应变范围减小近一个数量级,从而显著降低焊点的疲劳损伤;由于底充胶改变了Sn-Pb焊点应力、应变分布,使得充胶前后焊点裂纹位置发生改变.Sn-Pb焊点热疲劳裂纹萌生于粗化的富Sn相,并穿过富Pb相沿富Sn相生长.Sn和Pb晶粒的非均匀粗化趋势与模拟给出的剪切应变轴向分布一致.

关键词: 倒装焊 , null , null , null , null

倒装焊Sn-Pb焊点的热疲劳失效

张群 , 陈柳 , 程波 , 徐步陆 , 王国忠 , 程兆年 , 谢晓明

金属学报 doi:10.3321/j.issn:0412-1961.2001.07.010

对倒装焊Sn-Pb焊点进行了热循环实验,结合三维全局有限元模拟的结果,研究了Sn-Pb焊点热疲劳失效.结果表明,充胶后焊点内塑性应变范围减小近一个数量级,从而显著降低焊点的疲劳损伤;由于底充胶改变了Sn-Pb焊点应力、应变分布,使得充胶前后焊点裂纹位置发生改变.Sn-Pb焊点热疲劳裂纹萌生于粗化的富Sn相,并穿过富Pb相沿富Sn相生长.Sn和Pb晶粒的非均匀粗化趋势与模拟给出的剪切应变轴向分布一致.

关键词: 倒装焊 , 底充胶 , Sn-Pb焊点 , 分层 , 热疲劳

倒装焊电子封装底充胶分层研究

徐步陆 , 张群 , 彩霞 , 黄卫东 , 谢晓明 , 程兆年

功能材料与器件学报 doi:10.3969/j.issn.1007-4252.2002.02.011

使用裂缝尖端附近小矩形路径J积分方法计算电子封装分层传播的能量释放率,并在热循环加载下使用高频超声显微镜技术测定了B型和D型两种倒装焊封装在焊点有无断裂时芯片/底充胶界面的分层裂缝扩展速率.由有限元模拟给出的能量释放率和实验测得的裂缝扩展速率得到可作为倒装焊封装可靠性设计依据的Paris半经验方程.

关键词: 倒装焊 , 底充胶分层 , 有限元模拟 , 能量释放率

封装对MEMS高G值传感器性能的影响

黄卫东 , 彩霞 , 徐步陆 , 程兆年

功能材料与器件学报 doi:10.3969/j.issn.1007-4252.2002.03.009

以一种新型高G值MEMS加速度传感器为例进行有限元模拟,将实际封装简化为一种最简单的封装结构,进行频域分析和时域分析,讨论粘结传感器芯片和封装基体的封接材料对其输出信号的影响.频域分析表明,封接材料的杨氏模量对封装后加速度传感器整体的振动模态的影响很大,封接胶的杨氏模量很小时会致使加速度传感器的信号失真,模拟表明可选用杨氏模量足够高的环氧树脂类作高G值传感器的封接材料.时域分析静态模拟表明,封接材料的杨氏模量对最大等效应力、最大正应力以及沿加载垂直方向的正应力的最大值与最小值基本无影响.时域分析动态模拟表明,随着封接材料杨氏模量的提高,动态模拟输出的悬臂梁末端节点位移的波形和经数字滤波后输出的信号变好,封接材料的杨氏模量不影响输出信号的频率和均值,在加速度脉冲幅值输入信号变化时,悬臂梁末端位移平均值输出信号与输入有良好的线性关系.

关键词: 高G值加速度传感器 , 传感器封装 , 频域分析 , 时域分析

电子封装塑封材料中水的形态

彩霞 , 黄卫东 , 徐步陆 , 程兆年

材料研究学报 doi:10.3321/j.issn:1005-3093.2002.05.011

利用实验和Fick扩散方程模拟塑封材料对水的吸收过程,得到水汽在塑封材料中的扩散系数和饱和浓度塑封材料中的水分子存在于高分子链围成的微孔洞中,并与高分子聚合物以氢键相连.当塑封材料中水汽浓度达到饱和时,在水分子进入的有效体积内,水汽的密度为标准状态下水蒸气密度的100倍,为液态水密度的8%,这表明在塑封材料中水分子以一种特殊的液态水形态存在在一定的水汽浓度下,在界面处的微孔洞中水气液两相共存.在两相共存的微孔洞中由于水分子争夺高分子的氢键使高分子与芯片表面的二氧化硅层的结合减弱,逐步扩展形成可以观察到的分层.

关键词: 塑封材料 , 吸水 , 分层 , 液态水

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