张阳军
,
周益春
材料科学与工程学报
本文结合纳米压痕和有限元法确定了横观各向同性ZnO纳米带各方向上的弹性常数.在正向分析过程中,用ABAQUS有限元软件的压电模式大量模拟了纳米带/硅基底体系的压痕实验,得到无量纲方程的具体形式.在反向分析过程中,通过对沉积在硅基底上的ZnO纳米带进行纳米压痕实验,将相关实验数据代入无量纲方程,确定横观各向同性ZnO纳米带各方向上的弹性常数为ET=35GPa,EL=49G Pa和GL=5GPa.
关键词:
ZnO纳米带
,
横观各向同性
,
弹性常数
,
纳米压痕
,
有限元法
王炳琴
,
张阳军
,
郑学军
材料科学与工程学报
doi:10.14136/j.cnki.issn 1673-2812.2015.06.016
首先用化学气相沉积法制备了ZnO纳米线阵列,然后在此基础上制作了真空压强传感器.测试了基于ZnO纳米线阵列的真空压强传感器敏感特性,并与基于ZnO纳米带膜的传感器敏感特性做了比较,发现前者比后者敏感特性更好,相比传统的真空传感器,具有测量范围宽、灵敏度高和功耗低等优点.这主要是由于ZnO纳米线阵列具有较大的比表面积及氧吸附与解吸附等原因引起.
关键词:
ZnO
,
纳米线阵列
,
真空压强传感器
,
氧吸附与解吸附
