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PECVD法玻璃容器内壁沉积SiO2薄膜的SEM表征

朱恒伟 , 李文杰 , 张金云 , 叶欢 , 陈国安 , 吕斌 , 吕建国

材料科学与工程学报 doi:10.14136/j.cnki.issn 1673-2812.2015.05.009

采用自主研制的等离子体增强化学气相沉积(PECVD)专用设备,在玻璃容器内壁沉积SiO2薄膜,用作阻隔涂层.通过设计沉积工艺,在不同的气体流量比例、工作气压和生长时间等生长条件下制备出SiO2薄膜;通过扫描电子显微镜(SEM)测试表征薄膜的形貌和结构,评价薄膜的性能.根据表征结果分析了各种工艺参数对薄膜性能的影响,获得了较为优化的工艺参数,在玻璃容器内壁制备出较高质量的SiO2薄膜.

关键词: PECVD , 玻璃容器 , 内壁镀膜 , SiO2薄膜 , SEM表征

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