欢迎登录材料期刊网

材料期刊网

高级检索

  • 论文(6)
  • 图书()
  • 专利()
  • 新闻()

镀铂栅极抑制电子发射性能研究

蒋军 , 江炳尧 , 任琮欣 , 张福民 , 冯涛 , 王曦 , 柳襄怀 , 邹世昌

稀有金属材料与工程

利用离子束辅助沉积(IBAD)方法在Mo栅极表面上沉积Pt膜,采用试验二极管方法测量和比较阴极活性物质Ba,BaO蒸发到镀铂栅极和纯钼栅极表面上后的电子发射性能.采用XRD,EDX,XPS等测试手段对其栅极表面进行对比分析和表征.实验结果表明:镀铂栅极具有明显的抑制电子发射性能,并初步探讨了离子束辅助沉积Pt膜抑制栅电子发射的机理.

关键词: 电子发射 , 离子束辅助沉积 , 钼栅极 , 铂膜

掺Er-Al2O3薄膜发光特性的研究

肖海波 , 张峰 , 张昌盛 , 程新利 , 王永进 , 陈志君 , 林志浪 , 张福民 , 邹世昌

功能材料与器件学报 doi:10.3969/j.issn.1007-4252.2004.01.006

通过离子束辅助沉积(IBAD)在热氧化SiO2上沉积Al2O3薄膜,在120keV下注入5×10115cm-2Er离子,Ar气氛下773~1273K退火1h.低温下测试PL谱线,随退火温度升高,发光强度上升.973K退火下发光强度特别低,并观察到Si衬底的1140nm峰.光透射谱表明几乎在所有的测试范围内尤其在1530nm处973K退火样品的透射谱强度最强,波导损耗最低.1530nm发光强度随退火温度的变化跟发光强度的变化相反.说明Er离子在514.5nm泵谱吸收界面σ跟Al2O3的光吸收损耗有一定关系.

关键词: 掺Er-Al2O3薄膜 , PL谱 , 光透射谱

类金刚石薄膜作为阴极阵列的场发射显示器研制

冯涛 , 茅东升 , 李炜 , 柳襄怀 , 王曦 , 张福民 , 李琼 , 徐静芳 , 诸玉坤

功能材料与器件学报 doi:10.3969/j.issn.1007-4252.2002.03.018

采用真空磁过滤弧沉积(FAD)的方法制备的类金刚石(DLC)薄膜具有良好的场发射性能.通过离子束技术和微细加工技术可以实现DLC薄膜的图形化并能大大提高薄膜的场发射性能.测试表明,DLC薄膜孔洞阵列具有很好的电子场发射性能,阈值电场达到了2.1V/μm,当场强为14.3V/μm时,电流密度达到了1.23mA/cm2.利用图形化的DLC薄膜作为阴极,设计和制作了矩阵选址单色场发射显示器(FED)样管.

关键词: 类金刚石薄膜 , 图形化 , 场发射显示器

离子束溅射制备ZnO:Zn荧光薄膜

李炜 , 茅东升 , 张福民 , 王曦 , 柳襄怀 , 邹世昌 , 诸玉坤 , 李琼 , 徐静芳

材料研究学报 doi:10.3321/j.issn:1005-3093.2001.01.006

用离子束溅射法制备了用于场发射显示器(FED)的ZnO:Zn荧光薄膜.采用RBS、XRD、AFM、Hall和PL谱等手段表征了热处理前后的薄膜.RBS结果表明薄膜中存在一定数量的过量Zn.沉积态的薄膜中同时含有非晶相和晶相,其表面形貌表现出多种结构.Hall检测发现,升高热处理温度能降低薄膜中的自由载流子浓度,说明过量Zn含量的下降;当热处理温度超过400℃时,Hall迁移率迅速上升,表明薄膜结晶性能的改善.在ZnO:Zn薄膜的PL谱中检测到紫外/紫光、蓝/绿光两组荧光峰,一价氧空位(Vo)充当了蓝/绿光的发光中心.薄膜的光致发光强度受热处理温度的影响很大,可能的原因包括薄膜结构缺陷的修复、成分均匀化和过量Zn的蒸发,但这些效应在不同温度范围的作用程度各不相同.

关键词: ZnO:Zn , 荧光薄膜 , 热处理 , 光致发光

离子束增强沉积Si_3N_4/Si多层红外干涉滤波薄膜

江炳尧 , 张福民 , 孙义林 , 陈酉善 , 柳襄怀

材料研究学报

利用离子束增强沉积工艺,在硅基片上制备Si3N4/Si多层红外干涉滤波薄膜结果表明,N2+N的辅助轰击对于合成接近化学配比的Si3N4薄膜起了关键作用薄膜的折射率可达1.74~1.84实验测得的多层滤波薄膜的红外反射谱与理论值相当接近

关键词: 红外干涉滤波膜 , Ion Beam Laboratory

电绝缘用ta-C薄膜的微观结构与电学特性

宋朝瑞 , 俞跃辉 , 邹世昌 , 张福民 , 王曦

功能材料与器件学报 doi:10.3969/j.issn.1007-4252.2003.04.010

采用ta-C薄膜用于SOI结构中的绝缘层,在高温高功率器件中有很大的应用潜力.应用真空磁过滤弧源沉积(FAD)的方法制备了ta-C薄膜.通过AFM、non-RBS、IR、I-V、C-V等方法对薄膜的表面形貌、微观结构和电学性能进行了研究.研究表明,ta-C薄膜的sp3键含量高达87%,且具有很高的表面光洁度(粗糙度低于0.5nm)及较好的电绝缘性能,击穿场强达到4.7MV/cm.

关键词: ta- C薄膜 , 真空磁过滤弧源沉积 , SOI , 电绝缘性能

出版年份

刊物分类

相关作者

相关热词