张祥
,
费斐
,
郭文瑞
,
聂书红
,
吴良专
,
谢建军
,
赵建文
,
崔铮
影像科学与光化学
doi:10.7517/j.issn.1674-0475.2016.02.136
利用纳米压印和电刷镀技术在PET基体上制作出大面积金源、漏电极阵列.分别采用钛酸钡复合材料为介电层,印刷银电极为顶电极,聚芴-二噻吩基吡咯并吡咯二酮(PF8DPP)分离的半导体碳纳米管为有源层,在柔性基体上构建出全印刷碳纳米管薄膜晶体管器件和反相器.全印刷碳纳米管薄膜晶体管的开关比和迁移率分别达到4×104和6 cm2·V-1·s-1,且器件表现出零回滞特性.构建的反相器在Vdd=8 V时,其增益可以达到12.
关键词:
纳米压印
,
电刷镀
,
半导体碳纳米管
,
聚合物
,
印刷电子
,
薄膜晶体管
张铁轶
,
余道平
,
王野
,
刘超强
,
张祥
液晶与显示
doi:10.3788/YJYXS20142901.0034
为了提高自动光学检测系统检测彩膜质量的准确率,降低误判,通过分析由红绿蓝三色组成矩阵结构和Line CCD获取的彩膜图像特征,在五点周期比较检测的基础上设计一种彩膜缺陷的检测方法.该方法通过对彩膜的机械与光学对位后,通过五点比对进行缺陷的检测.Line CCD从红绿蓝3个不同的区域获取不同的灰阶值,分别设置3个区域的灰阶值范围和该区域的判定阈值;最后根据缺陷与正常点灰阶差值的不同对缺陷进行分类,赋予相应的缺陷代码.基于以上3个步骤,实现对整张彩膜的缺陷检测.实验结果表明,采用五点比较、分区检测和缺陷分类相结合的方法,缺陷检出的准确率可以提高至99.6％以上.
关键词:
自动光学检查
,
彩膜
,
灰阶
,
缺陷
许威威
,
徐文亚
,
张祥
,
金晶
,
赵建文
,
崔铮
影像科学与光化学
doi:10.7517/j.issn.1674-0475.2016.02.152
本文用聚[(9,9-二辛基芴-2,7-二基)-共-(1,4-苯并2,1-3噻二唑)](PFO-BT)分离的半导体碳纳米管作为有源层,通过气溶胶喷墨打印技术在刚性基体上构建出底栅结构的碳纳米管薄膜晶体管器件.用钛酸钡复合材料封装后,碳纳米管薄膜晶体管表现出很好的双极性、较高的开关比和零回滞特性,同时阈值电压能够控制在0V附近.通过两个双极性薄膜晶体管连接而成的反相器表现出零回滞、高电压增益(Vdd =1.5 V时,其增益可达到35)和大噪声容限(Vdd=1 V时,最大噪声容限为0.44 V).
关键词:
印刷电子
,
聚合物
,
半导体碳纳米管
,
薄膜晶体管
,
双极性
,
封装
夏兴达
,
杨兵初
,
张祥
,
周聪华
功能材料
doi:10.3969/j.issn.1001-9731.2016.05.016
利用多元醇热法,以乙二醇为溶剂和还原剂,聚乙烯吡咯烷酮(PVP)为表面活性剂,硝酸银为银源,讨论了温度和二氧化钛(P25)在混合体系中的添加量对银纳米线长度的影响.用扫描电子显微镜(SEM)对银纳米线的形貌进行了表征,利用 X 射线衍射(XRD)分析了银纳米线的晶体结构,利用紫外可见透射光谱分析了在350~1100 nm波段内的银纳米薄膜的透光性能.研究表明,当温度为140℃,且在反应体系中添加4 mg P25时,银纳米线的平均长度最长,制备的银纳米线薄膜透过率在550 nm为88％时,薄膜方块电阻为12．1Ω/□.
关键词:
银纳米线
,
二氧化钛
,
透过率
,
方块电阻
,
合成
张祥
,
陆晓明
,
金德龙
,
何伟
冶金分析
doi:10.13228/j.boyuan.issn1000-7571.009643
采用玻璃片熔融方法制样,建立了X射线荧光光谱(XRF)分析不锈钢渣中氧化铝、二氧化硅、氧化钙、氧化镁、三氧化二铁、氧化锰、三氧化二铬、二氧化钛、氧化镍和五氧化二磷的快速检测方法.以四硼酸锂-偏硼酸锂(质量比1∶1)为熔剂,稀释比1∶24,在1 100℃下,静置5 min,摇摆20 min熔融,制得均匀不锈钢渣玻璃片.选用炉渣标准样品、三氧化二铬高纯试剂及镍标准溶液合成系列不锈钢渣校准样品,经X射线荧光光谱仪测定并绘制校准曲线,采用谱线重叠干扰校正系数和基体效应校正系数有效地消除了光谱干扰和基体效应.采用高纯氧化物和标准溶液配制不锈钢渣合成样品,采用实验方法对合成样品及生产样品进行分析,测定值与参考值或湿法测定值一致;精密度试验结果显示,各组分测定结果的相对标准偏差(RSD,n=9)为0.34％～9.4％.
关键词:
熔融制样
,
X射线荧光光谱
,
不锈钢渣
,
重叠校正
,
基体校正
,
主次组分
