王君玉
,
陈静
,
张学华
,
陈浩凤
黄金
doi:10.3969/j.issn.1001-1277.2006.12.015
文中介绍了矿石样品中Au、Pt、Pd、Rh、Ir的连续测定方法,并讨论了测定每种元素分析条件和注意事项.经过国家一级标准物质和多次样品检验,该方法可靠,易于操作.
关键词:
矿石样品
,
Au
,
Pt
,
Pd
,
Rh
,
Ir
,
连续测定
刘桐
,
唐慧琴
,
张学华
,
赵杰
,
孙学良
功能材料
用离子束辅助沉积(IBAD)方法在碳纳米管表面制备银膜.用琼脂平板法测试了抗菌率,测试菌种为革兰氏阴性大肠杆菌(E.coil)和革兰氏阳性金黄色葡萄球菌(S.aureus);用扫描电子显微镜(SEM) 观测了镀银碳纳米管的微观形貌;用能量散射X射线谱(EDX)分析了镀银碳纳米管表面元素的原子百分比;用X射线光电子能谱(XPS) 分析了镀银碳纳米管的表面元素的价态.研究结果表明,镀银碳纳米管具有优良的抗菌性能,且比在热解碳上镀银样品的抗菌性强.
关键词:
抗菌性
,
银
,
碳纳米管
,
离子束辅助沉积
张学华
,
曹猛
,
王明霞
,
刘桐
,
李德军
金属功能材料
doi:10.3969/j.issn.1005-8192.2007.01.007
本研究选择钽和铌的氮化物作为个体层材料,利用FJL560CI2型超高真空射频磁控与离子束联合溅射系统制备TaN、NbN及-系列的TaN/NbN多层薄膜.通过XRD和纳米力学测试系统以及摩擦磨损仪分析了该体系合成以后的晶体结构,以及调制周期对机械性能的影响.结果表明:多层膜的纳米硬度值普遍高于两种个体材料混合相的硬度值;当调制周期为8.5 nm时,TaN/NbN多层膜达到最大硬度30 GPa,结晶出现多元化,多层膜体系的硬度、应力、弹性模量以及膜-基结合性能均达到最佳效果.
关键词:
射频磁控溅射
,
TaN/NbN多层膜
,
调制周期
,
硬度
李强
,
张学华
冶金分析
doi:10.13228/j.issn.1000-7571.2014.01.005
应用台式X射线荧光光谱仪结合压片法制样现场快速测定太平洋多金属结核和富钴结壳样品中的氧化钠、氧化镁、三氧化二铝、二氧化硅、五氧化二磷、氧化钾、氧化钙、二氧化钛、硫、氯、锰、铁、钴、镍、铜、锌、钒、锶、锆、钡、铈和钇等组分.采用国家标准物质、以国家标准物质为基体制备的校准样品和定值富钴结壳样品绘制校准曲线,解决了相关标准样品不足的问题.对22个组分的测量条件进行优化,并通过经验系数法校正了主要成分二氧化硅、氧化钙、铁和锰的干扰.方法的检出限在10.5～733 μg/g.精密度试验结果表明,各组分测定值的相对标准偏差(RSD,n=7)在0.56％～7.7％之间.方法用于实际样品分析,分析结果与实验室内其他方法的结果吻合,能够满足野外现场多种组分同时快速分析的要求.
关键词:
台式X射线荧光光谱仪
,
结核结壳
,
多种组分
,
现场分析
仲维卓
,
张学华
,
罗豪甦
,
华素坤
人工晶体学报
doi:10.3969/j.issn.1000-985X.2006.01.001
本文研究了压电、铁电晶体中负离子配位多面体的结晶方位与形变,提出了压电晶体中同一种负离子配位多面体的结晶方位是一致的.在铁电晶体中,负离子配位多面体发生形变,伴随着晶体发生顺电-铁电相变,并从这一基本过程出发,对铁电体相变的形成机理进行了讨论.
关键词:
负离子配位多面体
,
压电性
,
铁电性
,
自发极化
,
相变
仲维卓
,
张学华
,
罗豪甦
,
华素坤
人工晶体学报
doi:10.3969/j.issn.1000-985X.2005.02.001
根据对晶体生长溶液、熔体拉曼光谱的测试结果,剖析了溶液和熔体中负离子配位多面体的分布及其缔合过程,总结出了不同过饱和溶液和不同过冷度熔体中负离子配位多面体生长基元的缔合形式和维度的规律.在靠近晶体的边界层处已出现与晶体结构相同或相似的大维度生长基元.实验表明,生长基元的分布和缔合与溶液过饱和度和熔体过冷度密切相关,从而提出用拉曼光谱进行实时监控,寻找最佳生长物化条件,优化晶体生长边界层的厚度和大维度生长基元的数量,为选择最佳工艺条件提出理论依据.
关键词:
溶液/熔体
,
拉曼光谱
,
负离子配位多面体生长基元
,
生长基元缔合
,
边界层
李强
,
张学华
,
黄雪华
冶金分析
doi:10.13228/j.issn.1000-7571.2014.10.016
目前,基于《测量不确定度表述指南》(GUM)的bottom-up技术是测量不确定度评定的主流方法,但是评定步骤烦琐,容易遗漏或重复计算不确定度分量,某些复杂过程的不确定度分量难以量化,应用于化学检测实验室的测量不确定度评定存在局限.依据新国标GB/T27411-2012提出的top-down法,探讨了质控图法在评定海洋沉积物中SiO2的测量不确定度中的应用.利用2013年实验室日常分析质控样海洋沉积物国家标准物质GBW07309中SiO2的监控数据进行评定,正态统计量A*(s)和A2* (MR)分别为0.870和0.787,精密度检验SR'小于0.254,偏倚检验| x-RQV |小于0.40,单值图和移动极差控制图没有失控点,整个测量系统处于统计受控状态,基于移动极差平均值的SR'即为测量不确定度.此法比GUM方法更为实用和简单,在X射线荧光光谱分析领域测量不确定度的评定方面具有重要的应用前景.
关键词:
不确定度评定
,
质控图法
,
二氧化硅
,
X射线荧光光谱法
